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AZtecTEM

AZtecTEM 是一款专为透射电镜用EDS分析而设计的软件。

AZtecTEM 是一种用于表征纳米级材料的分析系统。凭借牛津仪器超过30年的TEM技术经验,Aztec几乎可以满足您对TEM新一代EDS系统的任何需求。


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功能强大
  • 尽可能发挥新一代大面积 X-MaxN SDDs 的潜力- 在计数率低时提供高灵敏度,在计数率高时提供高输出效率。
  • 多探测器系统(取决于TEM和具体配置)选择立体角超过2球面度、有效晶体面积达到100mm²的探测器,采用特殊设计提高立体角。
  • 无窗选项可实现出色的低能端X射线探测能力。
  • AZtec具有64位性能和多任务处理能力,因此您能高效工作,实时显示最终结果,同时输出报告,快速完成分析工作。

灵活
  • AZtecTEM 提供了客户自定义数据收集,处理和导出选项的工具。
准确
  • 集成的 Tru-Q® 技术,可提供高精度的元素自动识别和定量分析-让您实时得到正确的结果。
  • AutoLock™ 提供主动和被动漂移校正功能 - 在分析纳米级和原子级结构时至关重要。
  • TruMap® 型和 TruLine™ 会实时更正重叠峰和其他假象,然后自动将真实数据可视化。

结构清晰
  • 向导或自定义操作模式;
  • AZtecTEM 可以通过步骤备注和可编辑的标准操作流程从头到尾协助任何级别的用户,进行准确完整的操作。

快速
  • 以尽可能快的采集速度获取信号,实时显示最终结果,并行输出报告。

下载中心

AZtecTEM

一本16页的手册展示了AZtecTEM在TEM-EDS应用的优势。包括软件和硬件部分(包括X-Max 100TLE和X-Max TSR)。

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TEM中的EDS介绍 

这篇12页的文档介绍了透射电子显微镜(TEM)中EDS的应用。它涵盖了EDS操作和X射线分析的。

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EDS和EELS(电子能量损失谱)联用

同时获得EDS和EELS是材料分析的有力工具。

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使用TEM表征获得面扫描 - 实时解决谱峰重叠。

本文档展示了AZtecTEM如何实时解决谱峰重叠问题。

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TEM中的定性分析:实时分析和报告

Point & ID

通常是分析样品的第一步。使用AZtec,是快速、准确和可重复的 - 您只需选择要分析的区域,即可在短时间内收集元素信息。

  • 所有元素都会自动识别;
  • 在miniQuant窗口中显示元素组成;
  • 您可以对结果添加注释并将报告一键发送给其他人。
AutoID

准确可靠的AutoID可以在采集谱图过程中自动识别元素。

  • 无需预先知道有哪些元素存在;
  • 如果需要,可以从元素周期表中删除某些元素;
  • 即使峰值发生重叠,使用Tru-Q技术仍可以在所有计数率下正确识别元素 。

AutoLock

自动将视野锁定到同一区域。这在使用STEM收集高分辨率图像和面扫描时特别有用。

  • 可对因试样漂移而通常难以获得高分辨率的图像进行分析;
  • 提供校准路径的实时更新;
  • 将主动和被动校正程序组合起来可应对不同类型的漂移。

TEM中的定量分析:实时定量分析的准确性

Tru-Q®

Tru-Q 是仪器公司的专利技术,可提供高精度的AutoID和定量分析。它使用了多种技术组合:

  • 完整的和硬件表征,实现真正的无标样分析。
  • 强大的FLS谱图处理功能,适用于所有情况。例如,不需要任何背景拟合调整。
  • 改进的Cliff-Lorimer-TEM定量,可以考虑样品厚度和密度。
  • 可以应用或用户定义的k因子。
  • 可以选择K,L或M线系进行定量分析。
  • PPC - 脉冲堆积的自动校正使得200,000cps计数率下的准确定量成为现实。
  • 去除不需要的干扰信息(例如来自栅格上的Cu)。
现在每个人都能获得可靠的结果。

能谱面扫描是每个EDS系统的核心工具 - 它与AZtec一起使用

智能面扫描

智能面扫描将自动定性分析的优势带入两个维度,自动识别元素并可视化其分布。

  • 传统的“Windows Integral”面扫描方法;
  • 面扫描会自动生成;
  • 元素也可以手动定义;
  • 面扫描分辨率高达4k像素;
  • 所有信息都保存在每个像素上用以后处理分析。

AutoLayer

只需单击一个按钮,AutoLayer就会获取一组X射线图中包含的复杂信息,并将其转换为单个图像,呈现可视化样本中的物相和元素分布。

  • 快速且自动地解读数据;
  • 自动选择颜色以突出显示单个图像中的重要内容;
  • 揭示真实样品的复杂性。


与EELS 联用

超快速EELS集成可提供准确的同步数据采集。AZtec能够以每秒超过1000个谱图的速度工作。

  • 与 Digital Micrograph™无缝集成;
  • 可获得高速采集;
  • 在集成和独立模式之间轻松切换;
  • 非常高的EDS收集效率。

TruMap

TruMap 是一种实时面扫描的解决方案,可以实时做背底扣除及重叠峰剥离,获得准时面分布结果。

  • 自动消除错误数据
  • 校正重叠谱峰,例如:
  • 区分Si K和W M线 - 对行业至关重要
  • 区分矿物分析中的Pb M,Mo L和S K 
  • 可以应用于已完成的数据

QuantMap

通过对SmartMap数据重新,校正X射线背底、峰重叠、样品基质效应和和峰假象来显示真实的元素含量分布图。QuantMaps可以在线和显示 - 无需离线重新处理SmartMap数据。

  • 以原子%,重量%,%或原子浓度显示结果;
  • 可将数据导出到电子表格。


AutoPhaseMap

AutoPhaseMap 使用统计测量而不是团聚或主要成分来创建样品中的相分布图以优化物相分组。它为自动识别的相提供了定性和定量分析方案。

  • 每个相的分布;
  • 每个相的谱图、成分和面积分数;
  • 查找所有尺寸范围的相,包括纳米材料;
  • 查找微量存在的元素。

LineScan将AZtec实时采集和报告的概念引入到线扫描元素变化中

  • 每个像素点的数据都能被收集并保存;
  • 轻松灵活的解释;
  • 自动获取多个水平或垂直线扫描;
  • 图像和线扫描对齐以进行清晰的视觉比较;
  • 强度标度归一化更容易比较主要和次要元素。

TruLine

TruLine 采用Tru-Q技术线扫描的真实元素峰值变化。

  • 自动校正重叠峰;
  • 通过消除X射线背底差异来增强真实的元素差异;
  • 实时并显示。

QuantLine

QuantLine 对SmartMap数据重新,校正X射线背底、重叠峰、样品基质效应和和峰假象,来显示真实的定量线扫描。

  • 无需等待冗长的数据处理...可实时查看定量线扫描!
  • 以原子%、重量%、%或原子浓度显示结果;
  • 将数据导出到电子表格;
  • 可以处理一系列数据。

灵活的离线数据处理和数据导出

重建

可以从先前收集的SmartMap或Linescan数据重建面扫描,线扫描和谱图。这使用户能够:

  • 从以前收集的SmartMaps重建TruMaps;
  • 从以前收集的SmartMaps重建QuantMaps;
  • 从之前收集的Linescans重建TruLines和QuantLines;
  • 从面扫描或线扫描的区域和点重建谱图;
  • 可以从存储的面扫描数据中提取反映浓度变化的线扫描结果以便详细分析晶界。

数据转换

在 (S)TEM 通常希望将AZtec中收集的数据转换到其他程序以供进一步研究。AZtec提供数据转换功能:

  • 数据集以原始文件的形式提供给程序,如Lispix和多变量统计分析包,用于评估原子列谱图等数据。
  • Excel可用于进一步处理谱图(EMSA格式),面扫描和线扫描。

实用性:功能强大可供专家级用户使用,也可扩展到任何用户

多任务系统

AZtec 具有多任务处理能力,这意味着每秒进行的数据采集也可用于数据处理和报告。

  • 实时数据交互;
  • 过去需要几分钟的任务现在需要几秒钟即可完成;
  • 在采集数据时,可以在另外一个中查询数据;
  • 启用新的工作方式,大幅提高分析效率。
 
多用户环境
  • 配置文件包含重复分析所需的所有设置,无论用户是谁,都可获得相同的结果。
  • 每个分析中都显示步骤说明和标准操作流程(SOP),并且可以自行修改有针对性的SOP
 
工作模式
  • 向导模式:非常适合那些喜欢“逐步”分析的人使用。导航系统的每一步都有明确的目的。您可以随时查看正在进行的功能以及下一步该做什么。
  • 自定义模式:非常适合那些喜欢自由、灵活的用户,用户可以决定他们想要看到什么功能以及在哪里能找到这些功能。

报告

无论您的要求是什么,AZtec都会帮助您以您希望的格式呈现报告。

  • 快速:直接从生成报告 - 只需点击右键即可通过电子邮件将数据直接发送给客户。
  • 灵活:专业的应用程序使您能够以所需的格式和分辨率导出数据。
  • 模块化:针对不同应用程序定制的报告模板列表使您只需按一下按钮即可生成专业的报告。
  • 创建自己的模板;
  • 简单易用的;
  • 创建跨多种技术的模板用;
  • 创建多页面模板;
  • 为单个或多个用户创建模板。

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