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产品手册

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AZtecLive & Ultim Max

AZtecLive将EDS技术从静态推至动态,提供实时化学元素成像。AZtecLive ,结合具有大晶体面积(170 mm2和100 mm2)、更灵敏电子元器件的新一代探测器Ultim Max,可以在分析元素成分时提供优异的速度和灵敏度。

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Symmetry

Symmetry是率先使用CMOS传感器技术的EBSD探测器,它将大大拓展EBSD的应用

 

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CMOS EBSD 家族

了解基于CMOS技术的EBSD探测器产品系列: 革新性的技术

 

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AZtecOne & X-MaxN 20

简单易用且功能强大的AZtecOne EDS分析软件与X-MaxN 20 SDD的稳定性和准确性相结合,为SEM中的EDS分析提供了强有力的解决方案。

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AZtecFeature

AZtecFeature是SEM中一个创新的颗粒物分析系统,其操作简单快速。这本12页的小册子详述该系统的原理及工作方式。

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AZtecGSR

AZtecGSR实现了在扫描电镜中枪击残留物的快速自动分析,其结果准确、可重复,符合ASTM E1588 - 10e1标准。

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AZtecHKL

这本16页的小册子通过硬件和软件的说明,展现了AZtec在EBSD分析过程中的优异表现。

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AZtecOne & x-act

本资料描述了AZtecOne组件,这是一个快速进行EDS分析的理想平台。

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AZtecTEM

这本16页的资料展示了为什么AZtecTEM是强大的EDS分析平台。它包括软件和硬件部分(包括 X-Max 100TLE和X-Max TSR)。

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E3 电学性能分析系统

E3系统能够在SEM和FIB中对器件和材料进行电学性能表征。

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INCAWave

在SEM上实现EPMA性能的方法。

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LayerProbe

LayerProbe 用于分析试样表面和亚表面层的组成和厚度,它是一种基于现有显微分析技术的无损测量工具,比专用的膜厚测量工具具有更高的成本效益、分辨率和精度。

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OmniProbe 400

这本宣传册主要介绍了纳米机械手OmniProbe 400的特征和优点。

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X-Max Extreme

X-Max Extreme是晶体面积为100mm2的无窗型X-Max SDD探测器,旨在提供更高的灵敏度和空间分辨率,并在超高分辨率FEG-SEMs中实现高分辨元素成像时提高元素成像的分辨率。

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