C+ 系列EBSD探测器
C+ 系列 EBSD 探测器 C-Nano+ 和 C- Swift+ 是第二代入门级探测器,专为各种类型的 EBSD 应用而设计。
C-Nano+是一款出色的入门级EBSD探测器。利用Symmetry探测器的创新技术, 为C-Nano+测器提供了领先的性能。C-Nano+适用于表征各种类型的样品,高像素分辨率使其非常适合于精细的应变分析,以及复杂并具有挑战性材料的常规分析。
1244 x 1024像素的全分辨率花样,适合高分辨率EBSD应用
600 pps领先的采集速度
光纤光学系统,带来对低能量和低束流分析的高灵敏度
无失真图像
C-Nano+是一款适用于各种材料和应用的EBSD探测器。利用专门定制的CMOS传感器,C-Nano+采集速度可达600 pps,同时花样分辨率达到312 x 256像素:这比同类型的基于CCD的探测器采集速度快5-6倍,得到至少4倍像素的花样。C-Nano+值得让您信任的性能,使其即使在更具挑战性的材料上,也能提供出色数据质量。
C-Nano+的光纤光学系统设计,确保了极高的灵敏度和亚像素失真水平,使其成为需要优良、高清花样的精细的应变分析的理想探测器。C-Nano+的灵敏度确保在使用非常低的束流(在3 nA以下)时,也能达到最大的分析速度。全分辨率模式能提供最高达900 pps/nA的灵敏度,从而能够成功地对电子束敏感材料和纳米晶材料进行详细地分析。
C-Nano+还得益于牛津仪器CMOS探测器系列独有的新设计功能,包括可避免潜在、代价昂贵的碰撞发生的接近传感器。C-Nano+是一个您可以一直信赖使用的探测器。
C-Nano+探测器是高性能CMOS技术的入门选项: