Characterisation of Low Dimensional Structures

Layerprobe 是SEM中用于薄膜分析的一个令人兴奋的软件工具。与专用的薄膜测量工具相比，AZtec EDS微观分析系统中的选配功能Layerprobe，速度更快、性价比更高、分辨率更高。

采集高质量的数据只是EBSD分析的第一步。接下来，AZtecCrystal提供了处理和分析EBSD数据所需的工具，并帮助解决您的材料问题。AZtecCrystal可与AZtecHKL无缝集成或作为独立程序运行，为专家和新手都设定了EBSD数据处理的新标准。

INCAEnergy+结合了WDS的灵敏度、分辨率和EDS的生产率、易用性。

INCAWave软件提供了WDS的灵敏度、分辨率，并提高了生产率。

AZtecHKL是强大的EBSD软件。它为常规分析提供速度和结果准确性的组合，以及推进EBSD前沿应用所需的灵活性和能力。

Symmetry是全新一体化EBSD探测器，基于始创的CMOS技术。它为EBSD应用提供了出色的性能、易用性以及一系列创新设计的特点。

SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合，灵敏度比传统大面积SDD高15倍。

AZtecTEM 是一款专为透射电镜用EDS分析而设计的软件。

AZtecTEM 是一种用于表征纳米级材料的分析系统。凭借牛津仪器超过30年的TEM技术经验，Aztec几乎可以满足您对TEM新一代EDS系统的任何需求。

这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率，尤其是对于轻元素，意味着所有能量都有更多的计数。

*配置、极靴和TEM相关。TEM中EDS探测器性能中一个重要的指标是立体角。这取决于电镜和极靴设计。对于X-MaxN TSR，我们优化了探测器和样品之间的距离来提高立体角。

X-Max N 100TLE作为我们TEM SDD探测器的旗舰产品，为纳米科学领域的场发射和球差校正透射电镜提供了可靠的解决方案。

OmniProbe 400是第九代纳米操纵手，采用压电驱动技术，可以实现纳米级别的定位。 OmniProbe 400具有很高的灵活性和性能，是高分辨率和高效率的纳米操纵手。

用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术，是一款真正的“新一代”SDD。

X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片，采用数字信号处理和创新封装技术，可以提供很高灵敏度，准确分析大部分类型的样品，包括易碎样品和纳米材料。