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C-Swift+

C-Swift+是一款高速多功能入门级EBSD探测器,专为常规材料分析和高速样品表征而设计。
C-Swift+继承了Symmetry的许多优点,包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift+也成为一种开创性的EBSD探测器。

  • 确保2000点/秒的标定速度

  • 在250点/秒速度下,采集622 x 512像素的EBSD花样

  • 光纤光学系统设计,对低能量和低束流分析具有非常高的灵敏度

  • 无失真图像


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C-Swift+是一个先进、高速EBSD探测器。和Symmetry S3 探测器一样,C-Swift+使用定制的CMOS传感器来实现高速和高灵敏度,以确保即使在更具挑战性的材料上也能获得高质量的结果。

C-Swift+最大速度为2000 pps,同时可获得高质量的花样分辨率(156 x 128 像素)。这相当于基于CCD的探测器以相似速度运行时所采集花样像素数的4倍,确保所有类型样品的可靠标定和高命中率。无失真光学系统与AZtec软件中强大的标定算法结合,使C-Swift+能够提供优于0.05°的高角度精度。对于需要更高质量花样的应用,C-Swift+可以以高达250 pps的速度采集622 x 512像素的花样,使其成为复杂的多相样品和精细的相分析的理想选择。

这是专为快速、有效的样品表征而设计的探测器。系统的每个组件,从接近传感器到可选的集成前置探测器,都经过设计, 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成为每个实验室的标准工具。

C-Swift+探测器为追求速度的测试设立了一个新标准:

  • 仅需要8 nA的电子束流,就能达到2000 pps的标定速度
  • 光纤光学系统和优化的荧光屏,提供高灵敏度。确保在低剂量和低束流能量下,提供高质量的花样——从而实现最大的空间分辨率
  • 最高速下,156 x 128像素的花样分辨率——超过快速CCD探测器的4倍像素但快速CCD探测器速度更慢
  • 全分辨率花样(622 x 512像素)——精细的相分析和形变分析的理想选择
  • 低失真光学系统, 确保角度精度优于0.05°
  • 即使在最快的速度下,也能实现无缝集成EDS
  • 波纹管SEM接口,保持SEM真空完整性
  • 独特的接近传感器——在可能发生的碰撞发生之前,自动将探测器移动到安全位置
  • 简单直观的探测器设置,确保每次都能获得良好的效果
  • 五个集成的前置探测器, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像

下载中心

C+ 系列EBSD探测器

C+ 系列 EBSD 探测器 C-Nano+ 和 C- Swift+ 是第二代入门级探测器,专为各种类型的 EBSD 应用而设计。

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AZtecHKL

这本16页的小册子说明了为什么AZtec是市场上领先的EBSD分析平台。涵盖硬件和软件。

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EBSD Explained

精通EBSD是一个24页的教程,不仅为新手介绍了EBSD科学的坚实基础,而且还展示了如何在实践中,应用理论以获得可靠和准确的EBSD结果。

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应用笔记- 利用高温EBSD直接观察相变

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