Inspection and Process Control

采集高质量的数据只是EBSD分析的第一步。接下来，AZtecCrystal提供了处理和分析EBSD数据所需的工具，并帮助解决您的材料问题。AZtecCrystal可与AZtecHKL无缝集成或作为独立程序运行，为专家和新手都设定了EBSD数据处理的新标准。

X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片，采用数字信号处理和创新封装技术，可以提供很高灵敏度，准确分析大部分类型的样品，包括易碎样品和纳米材料。

Ultim Max是新一代硅漂移型探测器（SDD)，配有大面积晶体和低噪音电子元器件，分析速度和探测灵敏性都有大幅提升。

Layerprobe 是SEM中用于薄膜分析的一个令人兴奋的软件工具。与专用的薄膜测量工具相比，AZtec EDS微观分析系统中的选配功能Layerprobe，速度更快、性价比更高、分辨率更高。

AZtecHKL是强大的EBSD软件。它为常规分析提供速度和结果准确性的组合，以及推进EBSD前沿应用所需的灵活性和能力。

AZtecTEM 是一款专为透射电镜用EDS分析而设计的软件。

AZtecTEM 是一种用于表征纳米级材料的分析系统。凭借牛津仪器超过30年的TEM技术经验，Aztec几乎可以满足您对TEM新一代EDS系统的任何需求。

AZtecFeature是一种自动颗粒物分析系统，专门针对适用性和高速输出进行了优化。它结合了Ultim Max硅漂移探测器的高效性、灵敏性和Aztec出色的分析性能和简便操作，创造了先进的全自动颗粒物分析平台。

AZtecAM是一个功能强大、自动化程度高的检测系统，专门用于分析增材制造（3D打印）中使用的金属原材料粉末。它在AZtecFeature平台的基础上优化了颗粒分析流程，以实现金属粉末的快速准确表征。

AZtecAM自动检测和识别原材料粉末中杂质颗粒、记录粉末颗粒形貌特征，也可深入研究单个颗粒，提供从形貌到成分、单个到统计的所有信息，是确保完善的增材制造工艺和高品质产品的理想工具。

AZtecOne系统结合了简单易用而功能强大的AZtecOne软件和 X-Max 20mm² 或 x-act 10mm²  硅漂移探测器的稳定性和准确性。AZtecOne系统是尽可能快速、轻松地完成EDS这样的复杂任务的理想解决方案。

不需要大量的EDS技术培训或高深的知识。用户可以在几分钟内掌握，并且对他们的结果完全有信心。

INCAMineral是一个强大的、自动化的矿物解离分析工具。它对矿石进行表征，并提供金属回收的重要数据，并能使用多功能SEM进行加工屈服表征。

利用牛津仪器的大面积SDDs(Ultim Max)的性能，它能以与专用系统相媲美的速度提供了准确的矿物分类，但具有可以根据需要进行其他分析的灵活性。