Material Composition and Structure

INCAEnergy+结合了WDS的灵敏度、分辨率和EDS的生产率、易用性。 INCAWave软件提供了WDS的灵敏度、分辨率，并提高了生产率。

采集高质量的数据只是EBSD分析的第一步。接下来，AZtecCrystal提供了处理和分析EBSD数据所需的工具，并帮助解决您的材料问题。AZtecCrystal可与AZtecHKL无缝集成或作为独立程序运行，为专家和新手都设定了EBSD数据处理的新标准。

这是一款安装在FIB和SEM端口上的纳米操纵手，内置了一个100nm闭环反馈控制器，具有准确、灵活、易用等特点。

AZtecHKL是强大的EBSD软件。它为常规分析提供速度和结果准确性的组合，以及推进EBSD前沿应用所需的灵活性和能力。

AZtec3D结合了EDS和EBSD的数据同步采集和分析功能与FIB-SEM的自动制样功能。

Symmetry是全新一体化EBSD探测器，基于始创的CMOS技术。它为EBSD应用提供了出色的性能、易用性以及一系列创新设计的特点。

Relate 联用技术图像处理软件用于EDS, EBSD, SEM/TEM和AFM等数据的高精度联用分析，它提供了必要工具来关联不同显微镜的数据，可视化二维和三维的多层数据，并进行相关性分析。

AZtecWave结合了波谱仪解析X射线谱峰灵敏性、微量及痕量元素准确性以及能谱仪检测元素时的高速及高灵活性的优势。发挥波谱仪高X射线分辨率的特点，能够在更低的检测限下解析复杂的谱峰重叠。作为在高计数率下也可实现高准确定量分析的EDS探测器，Ultim Max与Wave结合，是一款优秀的基于SEM下的元素显微分析系统。

Symmetry S3是市场上真正的全能型EBSD探测器，它采用先进的CMOS技术是一款革命性的EBSD探测器。为所有EBSD应用提供优越的品质、灵活易用以及一系列创新设计的功能。亮点包括：

AZtecTEM 是一款专为透射电镜用EDS分析而设计的软件。 AZtecTEM 是一种用于表征纳米级材料的分析系统。凭借牛津仪器超过30年的TEM技术经验，Aztec几乎可以满足您对TEM新一代EDS系统的任何需求。

AZtecBattery是一款强大的自动化分析软件，用于检测电池原料和电池制造过程中产生的异物颗粒。AZtecBattery适用于从采矿到电池制造整个链条中颗粒物产品的杂质检测。

AZtecSteel使SEM中的钢铁夹杂物分析变得更有效、更准确。 AZtecSteel是一种自动化的钢铁夹杂物分析软件包，利用扫描电子显微镜(SEM)中的能谱分析(EDS)，专用于钢铁夹杂物的分析和分类。它检测、测量并分析夹杂物，将数据结果按照公布的标准方法进行处理，并包含绘制复杂三元相图的功能。

Symmetry S2是市场上真正的全能型EBSD探测器，它采用先进的CMOS技术是一款革命性的EBSD探测器。为所有EBSD应用提供优越的品质、灵活易用以及一系列创新设计的功能。亮点包括：

AZtecLiveOne software platform is the ideal solution for carrying out a complex task like EDS as quickly and as easily as possible. No need for substantial training or advanced knowledge…

AZtecSynergy为同时采集EDS和EBSD数据提供了一个强大的解决方案。所有用于采集理想集成数据的工具都在同一位置，不需要复杂地从一个导航器切换到另一个导航器。

OmniProbe 350是三轴、端口安装式机械手，其特点是具有闭环反馈的压电马达，非常适合常规的TEM薄片制备。精确直观的控制意味着您可以快速、自信地工作，而不存在损坏或丢失样品的风险。

OmniProbe 400是第九代纳米操纵手，采用压电驱动技术，可以实现纳米级别的定位。 OmniProbe 400具有很高的灵活性和性能，是高分辨率和高效率的纳米操纵手。

AZtecWave

INCA WAVE 波谱仪是SEM中很少采用与EPMA相同的全聚焦几何设计的波谱仪。这意味着分辨率提高了2倍，测量更加稳定且可重复。

制药和生物医学行业需要EDS系统来证明其数据的电子记录是可信的、可靠的，并且等同于纸质记录。AZtecPharma旨在满足制药和生物医药行业日益增长的如下需求：

SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合，灵敏度比传统大面积SDD高15倍。

The compact Xplore Silicon Drift Detector (SDD) is the ideal detector for routine EDS analysis in the SEM. The introduction of Xplore complements Oxford Instruments comprehensive…