Material Composition and Structure

这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率，尤其是对于轻元素，意味着所有能量都有更多的计数。

*配置、极靴和TEM相关。TEM中EDS探测器性能中一个重要的指标是立体角。这取决于电镜和极靴设计。对于X-MaxN TSR，我们优化了探测器和样品之间的距离来提高立体角。

AZtecAM是一个功能强大、自动化程度高的检测系统，专门用于分析增材制造（3D打印）中使用的金属原材料粉末。它在AZtecFeature平台的基础上优化了颗粒分析流程，以实现金属粉末的快速准确表征。

AZtecAM自动检测和识别原材料粉末中杂质颗粒、记录粉末颗粒形貌特征，也可深入研究单个颗粒，提供从形貌到成分、单个到统计的所有信息，是确保完善的增材制造工艺和高品质产品的理想工具。

INCA WAVE 波谱仪是SEM中很少采用与EPMA相同的全聚焦几何设计的波谱仪。这意味着分辨率提高了2倍，测量更加稳定且可重复。

OmniProbe 350是三轴、端口安装式机械手，其特点是具有闭环反馈的压电马达，非常适合常规的TEM薄片制备。精确直观的控制意味着您可以快速、自信地工作，而不存在损坏或丢失样品的风险。

AZtecTEM 是一款专为透射电镜用EDS分析而设计的软件。

AZtecTEM 是一种用于表征纳米级材料的分析系统。凭借牛津仪器超过30年的TEM技术经验，Aztec几乎可以满足您对TEM新一代EDS系统的任何需求。

INCAEnergy+结合了WDS的灵敏度、分辨率和EDS的生产率、易用性。

INCAWave软件提供了WDS的灵敏度、分辨率，并提高了生产率。

AZtec3D结合了EDS和EBSD的数据同步采集和分析功能与FIB-SEM的自动制样功能。

AZtecLive是一种变革性的EDS分析方法，可以改变用户在SEM中进行样品筛选的方式。它将实时电子图像与实时X射线元素成像结合起来，为客户提供了一种更为直观的与样品互动的新方式。

这是一款安装在FIB和SEM端口上的纳米操纵手，内置了一个100nm闭环反馈控制器，具有准确、灵活、易用等特点。

AZtecHKL是强大的EBSD软件。它为常规分析提供速度和结果准确性的组合，以及推进EBSD前沿应用所需的灵活性和能力。

SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合，灵敏度比传统大面积SDD高15倍。

Symmetry是全新一体化EBSD探测器，基于始创的CMOS技术。它为EBSD应用提供了出色的性能、易用性以及一系列创新设计的特点。

用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术，是一款真正的“新一代”SDD。

AZtecSynergy为同时采集EDS和EBSD数据提供了一个强大的解决方案。所有用于采集理想集成数据的工具都在同一位置，不需要复杂地从一个导航器切换到另一个导航器。

AZtecSteel使SEM中的钢铁夹杂物分析变得更有效、更准确。

AZtecSteel是一种自动化的钢铁夹杂物分析软件包，利用扫描电子显微镜(SEM)中的能谱分析(EDS)，专用于钢铁夹杂物的分析和分类。它检测、测量并分析夹杂物，将数据结果按照公布的标准方法进行处理，并包含绘制复杂三元相图的功能。

OmniProbe 400是第九代纳米操纵手，采用压电驱动技术，可以实现纳米级别的定位。 OmniProbe 400具有很高的灵活性和性能，是高分辨率和高效率的纳米操纵手。

采集高质量的数据只是EBSD分析的第一步。接下来，AZtecCrystal提供了处理和分析EBSD数据所需的工具，并帮助解决您的材料问题。AZtecCrystal可与AZtecHKL无缝集成或作为独立程序运行，为专家和新手都设定了EBSD数据处理的新标准。

X-Max N 100TLE作为我们TEM SDD探测器的旗舰产品，为纳米科学领域的场发射和球差校正透射电镜提供了可靠的解决方案。

X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片，采用数字信号处理和创新封装技术，可以提供很高灵敏度，准确分析大部分类型的样品，包括易碎样品和纳米材料。