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X-MaxN 80T

用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术,是一款真正的“新一代”SDD。

  • X-Max N TEM探测器采用新的低噪声探测器设计,具有出色的分辨率和灵敏度 - 即使在高计数率下也是如此。

  • X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计,可提供更加出色的立体角和分析性能。

  • 旨在获得高输出效率与低能端X射线的高灵敏度。

  • 出色的分辨率,在50,000cps下保证Mn的分辨率。

  • 优化的检出角,可获得高质量的峰背比和轻元素检测能力。

  • 其出色的表现在所有类别TEM上均得到验证,包括场发射、球差校正电镜。

  • 利用AZtecTEM TruMap软件计算有助于快速获取元素分布图,包括实时背底扣除及重叠峰剥离处理。


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使用大面积探测器意味着:
  • 低束流下较高的计数率;
  • 成像性能和准确性得到优化;
  • 无需更改X射线分析的成像条件;
  • 在相同的电子束电流下更高的计数率;
  • 更短的采集时间;
  • 更好的统计性;
  • 小束流下也可以正常分析;
  • 提高空间分辨率;
  • 充分利用高分辨率TEM。

探测器晶体面积很重要,同时提高灵敏性

  • 在相同的操作条件下,探测器晶体面积更大的话:
  • 过去需要几分钟才能完成的面分析现在几秒钟就可以完成,这种快速分析变得愈加寻常。
  • 将在相同的采集时间内显著提高采集质量。
  • 大面积探测器 - 高速显微分析将成为常规分析手段。
  • 容易识别低能端X射线。

探测器晶体影响低能端X射线探测和灵敏性

  • X-MaxN 80 T 针对低能端X射线探测进行了优化 - 尺寸没有降低。
  • 其优异表现在所有电镜上都得到验证,可以对SiLI线进行面扫描。
  • 大面积探测器 - 低能量分析对所有样品都很实用。

探测器晶体面积影响空间分辨率

  • 高空间分辨率条件提高低能X射线的产额。
  • 大面积探测器可在有限的时间上收集高质量的低能X射线。
  • 可以更好地表征纳米尺度的特征。
  • 大面积探测器 – 为高级的纳米分析提供了可能。

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