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Cryo lift-out

牛津仪器纳米操作手OmniProbe的低温提取(Cryo lift-out)将样品提取功能扩展至低温样品(包括用高压冷冻法制备的样品)。 

低温-聚焦离子束显微镜(Cryo-FIB)的提取功能可以在经第三方低温系统冷却至-180°C的样品上操作。通过结合低温-透射电子显微镜(Cryo-TEM)或低温-原子探针(cryo-atom probe)可以拓展纳米分析的样品类型和应用领域 。


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牛津仪器纳米操作手OmniProbe的低温提取(Cryo lift-out)将样品提取功能扩展至低温样品(包括用高压冷冻法制备的样品)。

低温-聚焦离子束显微镜(Cryo-FIB)的提取功能可以在经第三方低温系统冷却至-180°C的样品上操作。通过结合低温-透射电子显微镜(Cryo-TEM)或低温-原子探针(cryo-atom probe)可以拓展纳米分析的样品类型和应用领域 。

低温提取装置由装配有隔热探针的定制探针轴组成,通过直接连接到低温系统的冷指实现被动冷却。牛津仪器专有的冰附着方法使用时包含了非独占许可。

OmniProbe 200系统具有低温提取功能,并且可在现场改造。

目前大多数电池都使用有机电解质,电极和电解质之间的界面对电池的诸多性能有着重要的影响。由于缺乏在高分辨率下直接研究的能力,在这些界面上发生的许多过程都没有被很好地理解。低温提取与低温TEM/STEM的结合,实现了在这些液-固界面上的高分辨率成像。

虽然液体电池座可以用于TEM成像,但受制于样品尺寸和液体类型。粘稠的液体(如有机电解质)会导致液体细胞的薄窗凸出,由此造成的散射效应和电子束宽化会导致成像分辨率降低。

采用低温提取,通过冷冻电池,从液-固界面提取截面样品,利用FIB将样品厚度减薄至小于100nm,从而可获得高分辨率的图像。

  • 研究领域的扩展
    • 在以前难以或不可能进行高分辨率分析的样品上获得高质量的数据。
      • 通常与Ga+反应或热敏的材料
      • 含水试样和具有液固界面的样品
      • 电池,生物植入体,水凝胶
      • 任何太大而不能进行迅速凝固的样品
  • 获得更好的图像和结果
    • 通过减少由Ga+ FIB引起的假象来提高数据质量
      • 避免化学反应(例如:III-V族材料)
      • 避免温度效应(例如:聚合物)
  • 提高层析数据重建和准确性
    • 避免由于冷冻超薄切片导致的的样品压缩,以获得更好的超微结构
    • 利用透射电镜和原子探针对大细胞和组织进行分析,获得高质量的结果

使用下面比较表帮助您为应用选择最佳的OmniProbe并比较指标。

SPECIFICATION                                                    OMNIPROBE
Cryo OmniProbe 350 OmniProbe 400
Linearity 500 nm 500 nm 250 nm
Encoder resolution 100 nm <50 nm 10 nm
Insertion repeatability 5 μm 5 μm 2 μm
Min velocity 100 nm/s 50 nm/s 10 nm/s
Max Velocity 250 μm/s 250 μm/s 500 μm/s
Compucentric rotation
APPLICATION
Site specific lift-out
Plan-view P P
Vent free plan-view
Backside Thinning P
Atom Probe tomography sample preparation P P
Cryogenic liftout
Voltage contrast imaging ✔*
Charge neutralisation
On-Tip analysis
EBIC measurements O O
EBAC measurements O O
In Situ tip change O

P: 需要OmniPivot样品台 O: 选配项 * 当连接低温时不行

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