Cryo lift-out

牛津仪器纳米操作手OmniProbe的低温提取(Cryo lift-out)将样品提取功能扩展至低温样品（包括用高压冷冻法制备的样品）。

低温-聚焦离子束显微镜（Cryo-FIB）的提取功能可以在经第三方低温系统冷却至-180°C的样品上操作。通过结合低温-透射电子显微镜（Cryo-TEM）或低温-原子探针(cryo-atom probe)可以拓展纳米分析的样品类型和应用领域。

牛津仪器纳米操作手OmniProbe的低温提取(Cryo lift-out)将样品提取功能扩展至低温样品（包括用高压冷冻法制备的样品）。

低温-聚焦离子束显微镜（Cryo-FIB）的提取功能可以在经第三方低温系统冷却至-180°C的样品上操作。通过结合低温-透射电子显微镜（Cryo-TEM）或低温-原子探针(cryo-atom probe)可以拓展纳米分析的样品类型和应用领域。

低温提取装置由装配有隔热探针的定制探针轴组成，通过直接连接到低温系统的冷指实现被动冷却。牛津仪器专有的冰附着方法使用时包含了非独占许可。

OmniProbe 200系统具有低温提取功能，并且可在现场改造。

目前大多数电池都使用有机电解质，电极和电解质之间的界面对电池的诸多性能有着重要的影响。由于缺乏在高分辨率下直接研究的能力，在这些界面上发生的许多过程都没有被很好地理解。低温提取与低温TEM/STEM的结合，实现了在这些液-固界面上的高分辨率成像。

虽然液体电池座可以用于TEM成像，但受制于样品尺寸和液体类型。粘稠的液体（如有机电解质）会导致液体细胞的薄窗凸出，由此造成的散射效应和电子束宽化会导致成像分辨率降低。

采用低温提取，通过冷冻电池，从液-固界面提取截面样品，利用FIB将样品厚度减薄至小于100nm，从而可获得高分辨率的图像。

研究领域的扩展
- 在以前难以或不可能进行高分辨率分析的样品上获得高质量的数据。
  - 通常与Ga+反应或热敏的材料
  - 含水试样和具有液固界面的样品
  - 电池，生物植入体，水凝胶
  - 任何太大而不能进行迅速凝固的样品
获得更好的图像和结果
- 通过减少由Ga+ FIB引起的假象来提高数据质量
  - 避免化学反应(例如:III-V族材料)
  - 避免温度效应(例如:聚合物)
提高层析数据重建和准确性
- 避免由于冷冻超薄切片导致的的样品压缩，以获得更好的超微结构
- 利用透射电镜和原子探针对大细胞和组织进行分析，获得高质量的结果

使用下面比较表帮助您为应用选择最佳的OmniProbe并比较指标。

SPECIFICATION	OMNIPROBE
	Cryo	OmniProbe 350	OmniProbe 400
Linearity	500 nm	500 nm	250 nm
Encoder resolution	100 nm	<50 nm	10 nm
Insertion repeatability	5 μm	5 μm	2 μm
Min velocity	100 nm/s	50 nm/s	10 nm/s
Max Velocity	250 μm/s	250 μm/s	500 μm/s
Compucentric rotation	✘	✘	✔
APPLICATION
Site specific lift-out	✔	✔	✔
Plan-view	P	P	✔
Vent free plan-view	✘	✘	✔
Backside Thinning	✘	✘	P
Atom Probe tomography sample preparation	P	P	✔
Cryogenic liftout	✔	✘	✘
Voltage contrast imaging	✔*	✔	✔
Charge neutralisation	✔	✔	✔
On-Tip analysis	✘	✘	✔
EBIC measurements	✘	O	O
EBAC measurements	✘	O	O
In Situ tip change	✘	O	✔