Xplore EDS 探测器专为扫描电镜中的常规分析而设计。它包含与Ultim Max高大面积探测器相同的成熟技术，因此用户可以期待相同的高质量结果，但封装要小得多。Xplore补充了我们全面的EDS产品组合，这意味着AzteClive实时化学成像现在可供所有用户使用。
Xplore系列探测器可提供最大尺寸为65 mm2 的传感器，并且所有探测器在扫描电子显微镜上的保证Mn Kα分辨率均为129 eV。此外，该分辨率在实际工作条件下得到保证（高达 100 Kcps）。这使得 Xplore 成为那些希望以经济实惠的简洁封装获得高端探测器的可靠性和精度的人的理想探测器。
Xplore是一款高通量紧凑型EDS探测器，专为SEM中的常规显微分析而设计。其创新设计意味着它具有你所期望的一流Ultim Max大面积探测器的质量和精度，但体积更为小巧。
降低成本和复杂性，但不以牺牲准确性、可靠性或质量为代价
结合了大面积Ultim Max探测器的成熟技术及其高通量X4电子电路，创造了Xplore和x1。
剥离不必要的组件，如电动马达和额外的冷却能力，以减少零件数量。可在现场维修。更少的零件，更低的故障可能性。
非常适合小型SEM或带有大量探测器及附件的电子显微镜。
有15mm2, 30mm2和65 mm2传感器尺寸可供选择。
可以以>1,000,000 cps的计数率进行面分布分析
分辨率 所有晶体尺寸的探测器在 100 Kcps 时的 Mn Kα 分辨率优于 129 eV。
检测范围
检测范围从硼（B）到锎（Cf）
高通量 Xplore 硬件、易于使用的软件和 AZtecLive 化学成像技术的完美结合可用于以下应用领域：
通过即时实时频谱比较，快速发现生产样本和‘对照’样本之间的任何差异。AZTEC中的频谱采集旨在利用SDD探测器产生的高计数率，实时提供准确的样本信息。只需选择要分析的区域，然后在收集频谱所需的几秒钟内：
识别假冒或侵犯专利权的产品
生产和销售假冒医药产品是一个全球性问题（估计每年损失从1600到2000亿美元不等）。除了金钱上的损失，潜在有害产品有可能进入消费者使用环节。
AZtecLive可以帮助您轻松地看到品牌产品与涉嫌假冒产品之间的关键元素分布和化学成分的相似及差异之处。
造纸厂使用添加剂和涂层来提高产品的各种性能。例如，碳酸钙用于减少纸张收缩和提高白度。 截面样品是研究其结构的好方法。叠加在电子图像上的X射线面分布图清楚地区分了基体、涂层和添加剂分布。
截面样品是研究其结构的好方法。叠加在电子图像上的X射线面分布图清楚地区分了基体、涂层和添加剂分布。
使用AZtecLive实现与样品的实时交互 使用“实时”扫描电子图像是 SEM 日常分析的一部分，可快速获得样品的整体形貌，或者找到可能需要进一步元素分析的感兴趣区域。
使用AZtecLive实现与样品的实时交互 使用“实时”扫描电子图像是 SEM 日常分析的一部分，可快速获得样品的整体形貌，或者找到可能需要进一步元素分析的感兴趣区域。
借助实时化学成像，您不再需要通过事先了解样品来帮助选择哪些区域需要进一步分析。AZtecLive化学成像使您能够在样品周围移动时同时连续地查看样品形态和元素分布。这加快了分析速度，让您有信心获得样品的代表性结果。
Ultim Max EDS探测器采用高端技术，提供了无与伦比的速度和灵敏度，同时不会影响数据准确性及质量。这一系列探测器将大面积传感器（高至170mm2）与Extreme电子电路相结合，提供卓越的性能。同时，所有Ultim Max探测器都可以在需要时轻松快速地插入并在不使用时撤回。
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Wave波谱仪具有独特的全聚焦 Rowland 圆几何结构和弯曲晶体，可为 SEM 提供高能量分辨率的波普分析。AZtecWave 软件将 Wave 波谱仪的独特功能与 Ultim Max EDS分析相结合，为 SEM 中主量元素到痕量元素分析提准确及高灵敏度的分析。
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Unity是扫描电子显微镜（ SEM ）中革命性新成像技术的新型探测器。 Unity是一台背散射电子和X射线（ BEX ）成像探测器。 当在样品导航时，它可无缝地结合背散射电子和X射线信号，提供包含有元素信息的彩色图像。
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