Characterisation of Catalyst Material

X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片，采用数字信号处理和创新封装技术，可以提供很高灵敏度，准确分析大部分类型的样品，包括易碎样品和纳米材料。

Relate 联用技术图像处理软件用于EDS, EBSD, SEM/TEM和AFM等数据的高精度联用分析，它提供了必要工具来关联不同显微镜的数据，可视化二维和三维的多层数据，并进行相关性分析。

制药和生物医学行业需要EDS系统来证明其数据的电子记录是可信的、可靠的，并且等同于纸质记录。AZtecPharma旨在满足制药和生物医药行业日益增长的如下需求：

采集高质量的数据只是EBSD分析的第一步。接下来，AZtecCrystal提供了处理和分析EBSD数据所需的工具，并帮助解决您的材料问题。AZtecCrystal可与AZtecHKL无缝集成或作为独立程序运行，为专家和新手都设定了EBSD数据处理的新标准。

X-Max N 100TLE作为我们TEM SDD探测器的旗舰产品，为纳米科学领域的场发射和球差校正透射电镜提供了可靠的解决方案。

SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合，灵敏度比传统大面积SDD高15倍。

用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术，是一款真正的“新一代”SDD。

AZtecFeature是一种自动颗粒物分析系统，专门针对适用性和高速输出进行了优化。它结合了Ultim Max硅漂移探测器的高效性、灵敏性和Aztec出色的分析性能和简便操作，创造了先进的全自动颗粒物分析平台。

AZtecTEM 是一款专为透射电镜用EDS分析而设计的软件。

AZtecTEM 是一种用于表征纳米级材料的分析系统。凭借牛津仪器超过30年的TEM技术经验，Aztec几乎可以满足您对TEM新一代EDS系统的任何需求。

INCAEnergy+结合了WDS的灵敏度、分辨率和EDS的生产率、易用性。

INCAWave软件提供了WDS的灵敏度、分辨率，并提高了生产率。

这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率，尤其是对于轻元素，意味着所有能量都有更多的计数。

*配置、极靴和TEM相关。TEM中EDS探测器性能中一个重要的指标是立体角。这取决于电镜和极靴设计。对于X-MaxN TSR，我们优化了探测器和样品之间的距离来提高立体角。