AZtecFeature

快速、准确而智能的颗粒分析：AZtecFeature根据需要实现高度自动化及高灵活性的分析

缩时为秒

自动颗粒物分析竟如此简单！只需单击任一颗粒，其他类似灰度的颗粒，自动被选中，并立刻给出选中颗粒的数量、颗粒面积、等效圆直径（ECD）等形貌信息。          

• 实时获得形貌信息
• 颗粒尺寸，形状，长宽比等立即显示
• 通过调整阈值和图像过滤器对颗粒识别做微调，以降低噪音、分离粘连颗粒等

完全一体化设计

由于AZtecFeature完全集成在AZtec软件中，可方便获取元素信息…            

• 自动获取每个颗粒的EDS谱图
• 使用AZtec用户配置文件中的现有设置进行谱图处理
• 使用Tru-Q®算法生成正确的结果
• 单击按钮即可生成分类方法

从单视场分析轻松过渡到大面积分析

从单视场分析到样品大面积区域甚至多样品分析：             

• 导航模式帮助用户完成大面积区域和样品设置
• 区域可以存储及调用，方便后续使用
• 对于每个样品，可以自动分析数千个视场中的多至200,000个颗粒
• 该系统可完全自动化样品台移动、图像采集和EDS采集，并将采集的数据整合到一个大区域中。采集期间，各个视场可示于在蒙太奇视图中
• 在采集过程中查看“大图”并放大可获得细节
• 重新定位到任何视场并获取数据以进行进一步分析
• 灯丝断裂时，系统自动暂停（与电镜型号有关）

报告              

获得颗粒数据后，自动添加到可自定义列表中，显示形态和成分测量结果以及颗粒分类。             

• 支持多线程任务，在数据采集的过程中，也可处理其他数据、输出报告等
• 可通过Microsoft Word直接输出可视化程度高的柱状图、散点图等数据
• 可通过Microsoft Excel导出原始数据，进行更多的分析

颗粒分析应用：基于形态学和元素成分的分析

与光镜分析方法不同，AZtecFeature不仅根据颗粒物尺寸和形状，而且还根据其元素成分（包括任意组合形貌及成分要求）对颗粒物进行分类。          

颗粒物的元素成分信息可帮助确认颗粒的来源并分析其对材料性能或工业过程的影响。它开辟了研发和工业过程控制的应用领域，例如：             

洁净度——确定电子、半导体和汽车行业精密制造过程中的污染物来源             

发动机磨损分析–通过分析发动机机油滤清器中颗粒来监测发动机的健康状况             

钢铁洁净度——分析金属和钢中非金属夹杂物的性质和来源             

犯罪痕迹分析——在犯罪学和法医学中检测和分析微量物证             

地质学和矿物学–识别和测量地质样品中的矿物相丰度，解离度、回收率等             

空气过滤器分析-通过分析空气过滤器中的颗粒来监测空气质量和污染             

石棉-通过形态分析确定样品中的纤维，并通过化学方法确认石棉的类型；            

... & 还有很多          

稀有颗粒检测             

AZtecFeature非常适合快速发现稀有或感兴趣的颗粒的检测，解决所谓的“大海捞针”问题。              通过处理电子图像，可以快速识别感兴趣颗粒，并通过EDS确认其元素成分。该技术广泛应用于犯罪取证中以识别枪击残留物和矿石样品中的贵金属检索。它可以将分析时间从数小时缩短到数分钟。     

大数据-从现有数据集中提取颗粒物信息        

AZtec可提供包含有纳米级细节的大面积X-ray面分布图。AZtecFeature可以从包含数十GB数据的大面积图中提取局部X-ray信息。AZtecFeature智能地结合了电子图像和X-ray面分布数据的信息，是分析大型数据集的有效工具。             

• 从大面积分布图中搜索特定相或夹杂物
• 在数据集中搜索颗粒并进行形态测量及分类
• 量化成分不均匀相的晶粒尺寸和形状
• 对先前获取的面分布图进行处理

行业应用方案

AZtecMineral 自动矿物分析系统       

当前技术先进且性价较高的自动化矿物学分析系统             

• 自动分析镶嵌样品和抛光岩石截面样品
• 计算矿物解离度、矿物相组成和连生关系
• 直接给出相组成并与理论含量比较
• 对一系列不同的矿石类型使用专用设置

在这里了解更多信息：AZtecMineral             

AZtecGSR 枪击残留物分析          

AZtecGSR增加了犯罪取证和枪弹残留物分析的专用设置。它可以根据ASTM 1588-20进行颗粒分类并输出报告。             

• 所有弹药类型的分类
• 枪弹残留物颗粒的可靠识别
• 用于系统校准和重复性分析的标准样品

在这里了解更多信息：AZtecGSR             

AZtecSteel  钢中的非金属夹杂物           

分析钢、轮胎帘线和粉末冶金中的夹杂物…             

• 根据一系列国际、行业及中国标准检测并评定钢的纯净度；
• 复杂夹杂物、串状夹杂物等分析；
• 全面、自动化的报告生成，包括夹杂物类型、三元相图和散点、柱状图等的统计数据；

在这里了解更多信息：AZtecSteel    

AZtecBattery 电池制造中的清洁度检测         

分析用于制造锂离子电池的粉末是否存在污染物             

• 通过成分和形态识别污染物，以帮助确定来源并采取补救措施
• 方便在不同地点做检测系统部署–确保整个供应链保持一致的清洁标准
• 全面、自动化的报告生成，包括污染物类型、三元相图和散点、柱状图等的统计数据

在这里了解更多信息：AZtecBattery            

AZtecClean 汽车制造中的清洁度检测             

分析汽车制造中的技术清洁度样品，结果符合ISO16232或VDA 19             

• 通过成分和形态识别污染物，以帮助确定来源并采取补救措施
• 易于在多个地点进行检测系统，并使用相同的检测方案–确保整个供应链保持一致的清洁标准
• 生成符合行业相关标准（包括ISO16232和VDA19）的报告，并在软件中计算部件清洁度代码

在这里了解更多信息：AZtecClean             

AZtecAM 增材制造粉末的质量控制            

在加工前后分析金属粉末，以保证增材制造的质量             

• 识别污染物，方便识别和确认污染源
• 监控以前使用过的粉末，以确定它们是否可以回收
• 结合Symmetry S2 EBSD检查成品部件的质量，包括晶粒度、晶粒取向等检测

 在这里了解更多信息：AZtecAM

高级表征             

AZtecFeature与AZtec软件的其他功能模块集合一体，实现了不同技术之间的无缝转换。            

例如，在自动运行期间识别出感兴趣的颗粒或晶粒，可以重新定位，并在几秒钟内获取X-ray或EBSD分布图。先进的AZtec TruMap和TruPhase功能可消除EDS数据中的谱峰重叠和背底干扰，并通过EDS和EBSD联用，进行准确的相鉴定。此外，WDS可用于确定痕量元素或解决复杂重叠峰。             

软件的集成可实现：

• 使用AZtecFeature预筛选样品
• 随后使用其他技术对特定颗粒进行重新分析
• 将颗粒分析与以下功能一体化：
• X-Ray面分布图
• TruMap-在线背景扣除和重叠峰剥离

   结合使用可实时显示重叠峰及元素峰型的谱图分析；           

• 薄膜厚度测量（LayerProbe）
• EBSD分析
• TruPhase - EDS-EBSD联用进行准确的相鉴定
• WDS定量分析

用于颗粒物自动分析的系列能谱仪（SDD） 

用于颗粒物自动分析的系列能谱仪（SDD）         

 AZtecFeature软件与牛津仪器Ultim Max系列能谱仪配合使用，针对不同预算和应用可以选择不同型号设备，常规显微分析推荐30、40mm²，高效显微分析推荐170mm²。             

• SDD探测器有效晶体面积；
• 系列可选：40mm² ，65 mm² ，100 mm² ，170mm²
• 计数率与晶体面积成正比例增加(SEM几何尺寸相图情况下)；      

所有Ultim Max探测器均提供：              

• 优异的低能端性能–所有探测器都能检测Be元素
• 同样出色的能量分辨率
• 拥有相同的几何结构，可以轻松升级现有系统

使用较大的晶体面积意味着：             

• 低电流下仍可获得足够计数率，满足检测需要
• 更优的成像性能和分析精度，实现亚微米颗粒和纳米颗粒的检测
• 在相同的束流下，计数率显著提高
• 更短的采集时间和更好的统计置信度
• 小直径束流的实用分析，最大化空间分辨率

AZtecFeature系统也可使用Xplore探测器。它是一款有效晶体面积为15或30 mm²的 SDD探测器，在高低计数率下都具有优异的性能。  

多探测器系统             

在自动化过程控制时，添加一个或多个额外的检测器可以显著提高分析效率；

对于具有挑战性的应用，在分析非常小的颗粒或束流敏感基底上的颗粒时，不推荐使用传统的高电压（如20kV）进行分析。在这种情况下，多个探测器可以提供更为有效的解决方案。对于粒径变化显著的两个样品，当仅使用一个探测器时，较大颗粒对较小颗粒形成遮挡。在SEM两侧各安装一个探测器可以避免这些阴影效应。             

• 一台显微镜上最多可同时运行四个Ultim Max探测器，总有效面积为680 mm²
• 多个探测器可用于分析：

             需要最高立体角的低电压纳米颗粒分析            

             束流敏感基底上的颗粒（如滤纸、树脂等）             

             尺寸差异大的颗粒分析，其中较小尺寸可能产生阴影效应（请参见本页顶部的图像）            

多探测器系统不仅可以实现更高的分析效率，还可以降低阴影的影响。

应用资料