牛津仪器集团成员
扩展

X-MaxN 100TLE

X-Max N 100TLE作为我们TEM SDD探测器的旗舰产品,为纳米科学领域的场发射和球差校正透射电镜提供了可靠的解决方案。

  • X-Max N 100TLE采用改进的晶体形状,无窗配置和创新的机械设计,可提供真正的“创新一代”SDD性能。这种组合对所有元素提供了非常高的灵敏度。

  • 例如,当在与传统检测器相同的条件下,它将检测到更低含量的元素,从而有效地分析纳米级别的杂质和掺杂剂 。

  • 在电子束敏感样品降解之前收集更多数据,将纳米颗粒和纳米管细节分析推向新的水平。


询价 增加到询价列表

无窗探测器
  • 无窗探测器在所有加速电压下提供更多的X射线计数,具有很好的低能端表现。

与具有类似立体角但使用超薄窗的探测器相比,采集效率明显提高。
  • 对N Kα的敏感性增加了近3倍;
  • 对O Kα的敏感性增加2倍;
  • 可以很容易地检测到Si的Kα和Lα峰;
  • 敏感性提高40-45%;
  • 且在峰背比或分辨率方面没有降低。

Aztec TEM采用优化的Tru-Q® 分析算法,实现任何加速电压下准确的元素自动标定和定量分析。
例如,它将:
  • 与常规检测器相比,在相同的条件下,能检测到含量更低的元素并分析纳米级的杂质和掺杂剂。
  • 在电子束敏感样品降解之前收集更多数据,对纳米颗粒和纳米管进行更仔细的分析。

出色的表现
  • 纳米级和皮米级结构表征时的计数率相对较高;
  • 改进的晶体设计使100mm2有效区域更接近样品,实现大立体角;
  • 无窗配置确保对所有元素都有高灵敏度和优异的低能量X射线探测能力;
  • 通过精确的和峰修正,在大于 100Kcps的计数率下进行准确定量。

出色的实用性
  • 易于安装和在现有电镜上进行升级;
  • 带挡板的自动退回装置可防止大量电子辐照损伤;
  • 在真空被破坏的情况下,压力传感器自动保护探测器;
  • 无LN2操作;
  • 无需倾斜样品就可以获得优化的立体角。
快速原子阵列面扫描

X-MaxN 100TLE出色的立体角、灵敏度和速度对于原子级放大倍率下元素的采集至关重要。样品漂移、束流损伤和污染在过去一直是TEM EDS发展的限制因素,但现在都已成功解决。

目前EDS可以在非常短的时间内采集X射线进行面扫描和线扫描而不会影响图像质量。性能的提高使得X-MaxN 100TLE成为需要原子级别高分辨分析以及弱信号情况下值得考虑的设备。X-MaxN 100TLE在大束流状态也可以应对高计数率。

牛津仪器感谢芝加哥伊利诺伊大学EMS教职员工的帮助并提供数据。

快速自动相分析

为了更详细地分析多相系统,AZtecTEM AutoPhaseMap使用统计变量而不是团聚物或主成分来创建分析区域的相分布图。它为自动识别的相组成提供了准确的定性和定量分析。

您可能想要…

相关应用

纳米材料生长和表征添加剂生产农用化学品与种子研究材料成分和结构电动汽车技术汽车传感器电池技术材料成分和结构机械及电学性能失效分析低维结构表征光发射装置制造和表征催化材料表征化学反应的原位观察岩芯分析工艺矿物学与化学分析电子显微镜
沪ICP备17031777号-1 公安机关备案号31010402003473