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AZtecCrystal

采集高质量的数据只是EBSD分析的第一步。接下来,AZtecCrystal提供了处理和分析EBSD数据所需的工具,并帮助解决您的材料问题。AZtecCrystal可与AZtecHKL无缝集成或作为独立程序运行,为专家和新手都设定了EBSD数据处理的新标准。

  • 针对快速处理和大数据进行优化

  • 直观的布局,多种观看模式可供选择

  • 面分布图、极图和ODF图显示和分析

  • 多个高级微观结构分析工具

  • 智能数据处理和材料设置


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AztecCrystal是一个综合性的软件包,用于处理电子背散射衍射(EBSD)采集的数据。它的设计目的是为新入门的EBSD技术人员提供必要的易用性;同时为经验丰富的用户提供材料深入表征所需的先进工具。无论您对EBSD数据分析有什么需求,AZtecCrystal都可以提供。

灵活

  • 多种查看模式显示:查看解决每个材料问题所需的分析工具
  • 无组件限制的多层面分布图创建和显示
  • 适用于所有计算机,从笔记本电脑到工作站

快速

  • 基于四元数的快速数据处理算法
  • 轻松处理AZtec采集的任何大小的数据集:即使是最大的数据集也会在几秒钟内处理完毕
  • 相关数据和设置存储在每个项目中,以便快速重新加载

智能

  • 智能程序设计,如孔隙探测、GND密度计算和取向差角度一致性分析等
  • 综合晶粒大小分析,根据ASTM标准进行晶粒度计算,并有超过10个晶粒显示选项
  • 所有材料的智能默认值和设置

数据管理

  • 利用新的灵活的、开放的HDF5数据格式(*.h5oina)
  • 直接从AZtec导出和启动
  • 各种演示数据集,广泛用于综合帮助系统
  • 对最近加载的数据集进行可视化预览
  • 在每个数据集中存储所有面分布图、极图、ODF图、测量、子集和材料设置
  • 高级、可定制的数据清理,包括自动孔隙/裂缝检测
  • 基于四元数的高速处理,可处理多达6400万个分析点的数据集
  • 打开新数据集后,自动计算取向图、相图、极图和晶粒大小
  • 灵活输出AZtecCrystal所显示的图像和数据

用户界面

  • 与AZtec相同主题和布局概念的直观界面
  • 多个用户可选择的查看模式,以访问必要的分析工具
  • 单独的项目树和设置面板,用于简单的数据和工具管理
  • 主工作区窗格可以在多个显示器上打开查看
  • 用户可选择缩放以适应不同屏幕分辨率

面分布图显示和分析

  • 以标签页或(链接的)平铺形式显示面分布图
  • 多面分布图交互模式(包括点和晶粒选择、剖面测量和子集创建)
  • 紧凑的图例显示,可与面分布图一起导出
  • 使用单独的面分布图图层创建无限的、可自定义的面分布图–任何面分布图中的图层数量都没有限制
  • 多个面分布图图层,每个图层完全可定制,包括:
    • 花样质量和花样错配
    • 取像着色
    • 织构组件
    • 应变和变形(包括GND密度、KAM))
    • EDS 元素分布
    • 晶粒尺寸、形状和内部取向分布
    • 晶界 / 亚晶界 / 相界 
    • 特殊晶界(包括孪晶和CSL晶界)
    • 取向和晶格关系
  • 单独显示所有面分布图的值和直方图
  • 取向差剖面分析工具,可变宽度和多组件显示
  • 全晶界取向差分析

织构分析

  • 完整、可定制的极图(PF)显示
  • 完整、可定制的反极图(IPF)显示
  • 完整的取向分布函数(ODF)分析(可选)
  • 用户自定义设置,包括ODF计算和显示、密度轮廓、投影选择等
  • Pole  plot(极分布图)计算和显示
  • 应用的样品的对称性选项
  • 数据旋转以纠正样品安放的误差

晶粒大小分析

  • 用户可定义的晶粒度测量
  • 高速算法–20000个晶粒,测量时间<15s
  • 多种晶粒模型显示
  • 晶粒大小直方图显示
  • 符合ASTM E2627标准的晶粒度数值
  • 高级数据子集过滤晶粒列表

数据子集

  • 子集是AZtecCrystal的核心功能,可对数据进行详细分析
  • 以多种方式定义的子集:
    • 直接从面分布图定义
    • 直接从极图、反极图和ODF图定义
    • 直接从过滤的晶粒列表定义
    • 直接从任何参数范围(如花样质量、EDS面分布图、施密特因子等)定义
  • 灵活的子集操作工具(形态、组合、相)
  • 子集可用于创建新的数据集

从AZtec导出数据

去噪和恢复项目 

 

项目属性

 

图形界面和显示

 

分析织构

 

分析晶界

 

在EBSD面分布图中测量截线

 

面分布图

 

晶粒分析

应用

AZteCrystal支持对任何EBSD数据集进行快速、高通量的分析。AZtecCrystal在速度方面进行了优化;在易用性方面进行了设计;它为所有级别的用户提供了EBSD技术的多功能性。AZtecCrystal非常适合于EBSD技术的任何应用,其主要应用领域如下:

 

钢和高温合金中的失效分析

  • 了解裂纹在材料中的扩展是设计不易失效材料的关键
  • AZtecCrystal提供了多种工具,使研究人员能够研究裂纹尖端塑性应变的累积,并研究晶粒结构、取向和裂纹扩展之间的关系

钢中织构的测量

  • 织构——晶粒的择优取向——控制着许多关键材料的性能,是大多数加工金属(如轧制钢)的关键测量指标
  • AZtecCrystal提供了测量和评估材料织构的所有必要工具——取向分布函数(ODF)、极图和反极图、可定制的织构成分图和多种确定织构分数的方法

理解岩石的变形过程

  • 理解岩石对应力和应变以及温度和压力变化的反应,对于理解控制板块构造、引发地震和导致矿石侵位的过程至关重要
  • AZtecCrystal可以快速,突出显示变形的过程,以面分布图的形式或通过更先进的方法,如晶界取向差分析

电子器件的晶界工程

  • 电子器件的电气性能与晶粒之间和晶粒内部晶界的分布和性质密切相关——如何控制这些,称为晶界工程
  • AZtecCrystal能够快速表征晶界含量,确定特殊晶界的比例(如CSL晶界),并真正确定纳米到微米尺度上的晶粒尺寸
升级至AZtecCrystal

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相关应用

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