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C-Swift

.C-Swift是CMOS探测器家族的新成员,专为常规材料分析和快速样品表征而设计。
C-Swift继承了Symmetry的许多优点,包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift也成为一种开创性的EBSD探测器。

  • 确保1000 点/秒的标定速度

  • 在250点/秒速度下,采集622x512像素的EBSD花样

  • 对低能量和低束流分析具有非常高的灵敏度

  • 无失真图像


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C-Swift是一个先进、高速EBSD探测器。与Symmetry探测器一样,C-Swift使用定制的CMOS传感器来实现高速和高灵敏度,以确保即使在更具挑战性的材料上也能获得高质量的结果。

C-Swift最大速度为1000pps,同时可获得高质量的花样分辨率(156x128像素)。这相当于基于CCD的探测器以相似速度运行时所采集花样像素数的4倍,确保所有类型样品的可靠标定和高命中率。无失真光学系统与AZtec软件中强大的标定算法结合,使C-Swift能够提供优于0.05°的高角度精度。对于需要更高质量花样的应用,  C-Swift可以以高达250pps的速度采集622x512像素的花样,使其成为复杂的多相样品和精细的相分析的理想选择。

这是专为快速、有效的样品表征而设计的探测器。系统的每个组件,从接近传感器到可选的集成前置探测器,都经过设计, 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成为每个实验室的标准工具。

当速度是关键时,C-Swift探测器达到了一个新标准:

  • 仅需要12nA的电子束流,就能保证1000pps的标定速度
  • 最高速度下的156x128像素的花样分辨率——同等速度下快速CCD探测器的4倍
  • 全分辨率花样(622x512像素)——精细的相分析和形变分析的理想选择
  • 低失真光学系统, 确保角度精度优于0.05°
  • 优化的高灵敏度荧光屏, 确保低剂量和低束流能量下的高质量的花样——实现最大的空间分辨率
  • 即使在最快速度下也能实现无缝的EDS集成
  • 波纹管SEM接口,保持SEM真空完整性
  • 独特的接近传感器——在可能发生的碰撞发生之前自动将探测器移动到安全位置
  • 简单直观的探测器设置,确保每次都能获得良好的效果
  • 五个集成的前置探测器, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像

下载中心

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