AZtecCrystal

数据管理

• 利用新的灵活的、开放的HDF5数据格式 (*.h5oina)
• 直接从AZtec导出和启动
• 各种演示数据集，广泛用于综合帮助系统
• 可视化预览最近加载的数据集
• 在每个数据集中存储所有面分布图、极图、ODF图、测量、子集和材料设置
• 可定制的数据清理，包括自动孔隙/裂缝检测及去除伪对称错标
• 基于四元数的高速处理，可处理多达6400万个分析点的数据集
• 打开新数据集后，自动计算取向图、相图、极图和晶粒大小
• 先进的模板工具，可快速定制所有显示和计算
• 利用智能批处理模板工具自动处理数据集
• 灵活输出AZtecCrystal所显示的图像和数据

用户界面

• 与AZtec相同主题和布局概念的直观界面
• 多个用户可选择的查看模式，以访问必要的分析工具
• 单独的项目树和设置面板，用于简单的数据和工具管理
• 主工作区窗格可以在多个显示器上打开查看
• 用户可选择缩放以适应不同屏幕分辨率

面分布图显示和分析

• 以标签页或（链接的）平铺形式显示面分布图
• 多面分布图交互模式（包括点和晶粒选择、剖面测量和子集创建）
• 紧凑的图例显示，可与面分布图一起导出
• 使用单独的面分布图图层创建无限的、可自定义的面分布图——任何面分布图中的图层数量都没有限制
• 多个面分布图图层，每个图层完全可定制，包括：
  
  • 花样质量和花样错配
  • 取像着色
  • 织构组件
  • 应变和变形（包括GND密度、KAM）
  • EDS 元素分布
  • 晶粒尺寸、形状和内部取向分布
  • 晶界 / 亚晶界 / 相界 
  • 特殊晶界（包括孪晶和CSL晶界）
  • 取向和晶格关系
• 分别显示所有单个面分布图的值和直方图
• 取向差剖面分析工具，可变宽度和多组件显示

织构分析

• 完整、可定制的极图（PF）显示
• 完整、可定制的反极图（IPF）显示
• 完整的取向分布函数（ODF）分析（可选）
• 用户自定义设置，包括ODF计算和显示、密度轮廓、投影选择等
• 极分布图计算和显示
• 应用的样品的对称性选项
• 数据旋转以纠正样品安放的误差

晶粒大小分析

• 用户可定义的晶粒度测量
• 高速算法——20000个晶粒，测量时间<15s
• 多种晶粒模型显示
• 晶粒大小直方图显示，算术统计及面积加权统计
• 符合ASTM E2627标准的晶粒度数值
• 优等数据子集过滤晶粒列表
• 孪晶统计分析

先进工具

• 完整晶界分析——完整表征数据集内的晶界数量
  
  • 全部晶界统计，包括晶界、相界、CSL晶界及特殊晶界
  • 智能“真实长度”算法，以弥补晶界按线段统计的偏差
  • 晶界取向差分析及一致性统计
  • 反映织构强度的M指数
  • 取向差分布函数分析，为每个数据集提供特征区域大小——理想的母相晶粒大小测量
  • 在样品或晶体参考坐标系上绘制晶界旋转轴

• 分类工具——将数据分割为相似类别的先进的、机器学习工具：
  
  • 最多可同时使用3个面分布图参数
  • 通过用户驱动的训练系统学习
  • 当仅用晶体学无法区分时，理想的分割区域工具（例如，铁素体、贝氏体及马氏体，或变形和再结晶分数）
  • 分类可以转化成子集，以便进一步分析
  • 分类方法可以保存在模板里

• 材料性能——基于取向信息，计算并显示弹性性能：
  
  • 包含常见材料，用户可编辑的弹性系数数据库
  • 快速计算5个弹性性能（包括杨氏模量和剪切模量）
  • 面分布图显示以展示空间变化
  • 整体平均（Voigt, Reuss, Hill及几何平均值）

数据子集

• 子集是AZtecCrystal的核心功能，可对数据进行详细分析
• 以多种方式定义的子集：
  
  • 直接从面分布图定义
  • 直接从极图、反极图和ODF图定义
  • 直接从过滤的晶粒列表定义
  • 直接从任何参数范围（如花样质量、EDS面分布图、施密特因子等）定义
• 灵活的子集操作工具（形态、组合、相）
• 子集可用于创建新的数据集

请观看我们的AZtecCrystal交互演示，来感受市场上现代化的EBSD数据处理软件的速度、灵活和智能！