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AZtecTEM
牛津仪器集团成员
AZtecHKL 是功能完善的电子背散射衍射（EBSD）分析软件，兼顾高效、精准的数据采集与解析能力，同时具备高端材料表征所需的灵活拓展功能。软件可实时输出分析结果，充分释放 Symmetry S3 这款探测灵敏度业内领先的 CMOS-EBSD 系统的全部性能。依托 AZtecSynergy，可无缝同步采集 EBSD 与 EDS 数据。全新 AZtecHKL 对 TKD 进行了专项优化，是纳米尺度下的表征利器，可同时满足常规检测与前沿科研的使用需求。
咨询价格
AZtecHKL 融合牛津仪器深厚的技术储备与人工智能技术，让各类高难度检测工作标准化落地。
AZtecHKL 搭载多款全新实用工具，简化 EBSD 采集参数设置，保障测试过程稳定可控，报告导出更加便捷。软件同时适配常规检测与高难度科研场景，助力用户获取优质数据、降低实验参数调试难度、产出可对外共享的分析结论，测试结果更具可信度。
定制化分析流程
EBSD 阴影遮蔽
批量导出
HTML 格式报告
基于牛津仪器对 EBSD 真实分析诉求的理解，AZtec 不仅满足了常规 EBSD 表征要求的操作便捷性，同时兼顾拓展了 EBSD 前沿研究所需的功能灵活度与性能表现。
牛津仪器在纳米分析领域有40余年的技术积累，是具备全球服务能力的行业头部企业。牛津仪器研发的 AZtec 平台，能够持续满足日益严苛的纳米尺度表征分析需求。
高速高效
简易易用
灵活拓展
创新技术
预计观看时长：7 分钟
AZtec 搭载智能菊池条带识别算法，可自主筛选有效衍射带用于花样标定计算。
部分测试场景中，SEM 外漏磁场会造成 EBSD 衍射花样畸变，引起菊池条带弯曲、花样中心偏移等问题，AZtec 可自动完成校正处理。
花样标定是获取精准 EBSD 结果的核心环节，AZtec 搭载全新标定方案——分类标定算法。
通过对比菊池带宽度，AZtec 可有效区分晶体结构相近的物相。
高精度标定算法
创新的高精度标定算法打破了传统 EBSD 分析局限，带来业界领先的测量精度与微观细节表征能力。
AZtec 高精度标定算法具备以下优势:
AutoCal 自动校准自由切换各类采集工况，全程稳定采集高质量衍射花样
AZtec 可实时、全自动完成各类采集工况变动带来的校正运算
相较于以往解决方案，系统采集参数优化的操作门槛更低，自动化程度更高
AutoLock 自动漂移校正
图像配准
AZtec 采集的图像数据均可用于样品导航与后续再定位，支持跨设备使用。
牛津仪器全系 CMOS-EBSD 探测器可集成多至5颗独立 FSD
高度灵活的再标定功能:
尽管近些年相关技术取得长足发展，但传统 EBSD 受衍射信号激发体积限制，空间分辨率仅能达到 25–100 nm 量级，难以对平均晶粒尺寸小于 100 nm 的纳米结构实现精准表征。
业界发展出一种 SEM 下基于电子衍射的全新解决方案：采用电子透明薄片样品，搭配常规EBSD硬件与分析软件开展测试。该技术被命名为透射式 EBSD（t-EBSD，由 Keller 与 Geiss 于2012年提出），也被称为透射菊池衍射（TKD，由 Trimby 于2012年提出）。经实验验证，其空间分辨能力可优于 10 nm。
AZtec 下的 TKD 导航器
AZtecHKL 内置 TKD 专用分析模块，配合牛津仪器全系 CMOS-EBSD 系统优异的探测灵敏度，可稳定输出高质量 TKD 分析结果。软件配备多项专为 TKD 开发的创新功能，可实现传统 EBSD 与 TKD 模式快速切换：
Symmetry S3 是市场上唯一一款真正的一体化 EBSD 探测器，它基于革命性的 Symmetry 探测器——这是全球首款采用先进 CMOS 技术的 EBSD 探测器。
C-Swift+ 是一款高速且功能多样的入门级 EBSD 探测器，专为常规材料分析和高通量样品表征而设计，在性能、易用性和性价比之间实现了较为理想的平衡。
C-Nano+ 适用于各类样品的表征，且其高像素分辨率使其特别适合进行精细的应变分析，以及针对复杂和具有挑战性的材料的常规工作。
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