OmniProbe 200

这是一款安装在FIB和SEM端口上的纳米操纵手，内置了一个100nm闭环反馈控制器，具有准确、灵活、易用等特点。

闭环系统
方案

询价增加到询价列表在询价列表中查看此产品

这是一款安装在FIB和SEM端口上的纳米操纵手，内置了一个100nm闭环反馈控制器，具有准确、灵活、易用等特点。使用闭环系统进行操作，完全独立于电镜样品台定位，从而为样品操作提供了额外的自由度。利用定制的样品台和探针组合（CSP）可将样品重新定位到特定角度。

特色和优点

包括第8代具有创新性的先进技术；
实现从纳米线操作到TEM样品制备，再到电学和机械测量的各种应用；
3轴样平台可以沿任意方向线性移动（全向性）；
在任何样品倾斜角度下都能实现正交导航；
将样品快速旋转到特定角度；
可以大范围内执行平稳而精确的操作；
即使在视野外也始终知道探头尖端的位置；
在任意端口安装都可以预测移动行为；
可以轻松地调出存储位置，减少操作员疲劳，并提高成功率；
避免碰撞；
气动插入/回缩链接到电镜软件（取决于OEM）；
内置能力，可为针施加最大+/- 10 V的偏压，用于电压衬度成像或其他应用。

同轴旋转功能

同轴旋转分辨率可达0.1度，使样品在旋转期间一直处于相当于60um水平视场的放大倍率下成像。

可以安全的完成样品旋转，没有任何碰撞的风险。每次旋转后，不需要重新定位样品或探针尖端。
在FIB中，这保证了对针尖打磨的速率及简易性，以改善电学特性表征的可靠性及对20nm以下特征样品尺寸进行操作时的精确性。

自动化系统

电脑和显示器；
2U机架式以太网控制器；
带有100nm线性反馈的3轴样平台；
运动控制软件界面；
用户手册和安装指南。

使用下面比较表帮助您为应用选择最佳的OmniProbe并比较指标。


SPECIFICATION	OMNIPROBE
	Cryo	OmniProbe 350	OmniProbe 400
Linearity	500 nm	500 nm	250 nm
Encoder resolution	100 nm	<50 nm	10 nm
Insertion repeatability	5 μm	5 μm	2 μm
Min velocity	100 nm/s	50 nm/s	10 nm/s
Max Velocity	250 μm/s	250 μm/s	500 μm/s
Compucentric rotation	✘	✘	✔
APPLICATION
Site specific lift-out	✔	✔	✔
Plan-view	P	P	✔
Vent free plan-view	✘	✘	✔
Backside Thinning	✘	✘	P
Atom Probe tomography sample preparation	P	P	✔
Cryogenic liftout	✔	✘	✘
Voltage contrast imaging	✔*	✔	✔
Charge neutralisation	✔	✔	✔
On-Tip analysis	✘	✘	✔
EBIC measurements	✘	O	O
EBAC measurements	✘	O	O
In Situ tip change	✘	O	✔

P: 需要OmniPivot样品台 O: 选配项 * 当连接低温时不行

选项

同轴旋转功能

同轴旋转分辨率可达0.1度，使样品在旋转期间一直处于相当于60um水平视场的放大倍率下成像。
可以安全的完成样品旋转，没有任何碰撞的风险。每次旋转后，不需要重新定位样品或探针尖端。
在FIB中，这保证了对针尖打磨的速率及简易性，以改善电学特性表征的可靠性及对20nm以下特征样品尺寸进行操作时的精确性。

自动化系统

电脑和显示器；
2U机架式以太网控制器；
带有100nm线性反馈的3轴样平台；
运动控制软件界面；
用户手册和安装指南。

您可能想要…

相关应用

增材制造汽车传感器电池技术太阳能电池的电学及结构表征材料成分和结构失效分析光发射装置制造和表征岩芯分析电子显微镜

沪ICP备17031777号-1

公安机关备案号31010402003473