OmniProbe 350
Discover why OmniProbe 350 is the best-in-class 3-axis nanomanipulator for fast and efficient routine TEM Lamella preparation
基于第9代探针设计,OmniProbe 350提供精确的纳米级控制。其紧凑的端口安装设计,最大限度地减少与其他探测器和附件的干扰。凭借稳定的探针平台和亚纳米压电马达,这一代的探针具有低振动、低漂移和卓越的定位精度。再结合直观的用户界面,其运动方向是基于所见的图像进行校准的。
其结果是为常规样品提取(lift-out)提供了一流的性能。结合可变倾角栅网样品台,OmniProbe 350可以轻松制备plan-view样品和TKD样品,而无需手动处理栅网或复杂的多步骤提取。
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优越的线性度——线性度测量的是探针尖端与要求的运动方向之间的偏差。在所有方向上可以沿直线移动的探针可以:
直观的用户界面——通过软件控件探针就像直接在电子图像中移动
平滑的连续运动——薄片制备工作流程要求探针进行物理接触,平滑运动确保这一过程不会有掉落或损坏样品的风险。
精确移动——可存储位置
稳定的探针平台——稳定是对抗振动和漂移的。将样品附着到探针尖端是通过气体沉积过程完成的,该过程可能需要几分钟。在此过程中,尖端的任何漂移或振动都可能导致样品内部产生应力,或样品在自由切割点处突然移动
端口安装式设计——在不使用时完全缩回腔室,因此不会影响您的显微镜
探头电气连接——包括用于电压衬度成像的+/-10V电源
请使用下面的比较表,帮助您为应用选择最佳的OmniProbe并比较指标。
SPECIFICATION | OMNIPROBE | ||
Cryo | OmniProbe 350 | OmniProbe 400 | |
Linearity | 500 nm | 500 nm | 250 nm |
Encoder resolution | <50 nm | <50 nm | 10 nm |
Insertion repeatability | 15 μm | 5 μm | 2 μm |
Min velocity | 50 nm/s | 50 nm/s | 10 nm/s |
Max Velocity | 250 μm/s | 250 μm/s | 500 μm/s |
Compucentric rotation | ✘ | ✘ | ✔ |
集成温度传感器 | ✔ | ✘ | ✘ |
APPLICATION | |||
Site specific lift-out | ✔ | ✔ | ✔ |
Plan-view | P | P | ✔ |
Vent free plan-view | ✘ | ✘ | ✔ |
Backside Thinning | ✘ | ✘ | P |
Atom Probe tomography sample preparation | P | P | ✔ |
Cryogenic liftout | ✔ | ✘ | ✘ |
Voltage contrast imaging | ✘ | ✔ | ✔ |
Charge neutralisation | ✔ | ✔ | ✔ |
On-Tip analysis | ✘ | ✘ | ✔ |
EBIC measurements | ✘ | O | O |
EBAC measurements | ✘ | O | O |
In Situ tip change | ✘ | O | ✔ |
P:需要OmniPivot 样品台;O:选配项 *在恒定温度下