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OmniProbe 350

OmniProbe 350是三轴、端口安装式机械手,其特点是具有闭环反馈的压电马达,非常适合常规的TEM薄片制备。精确直观的控制意味着您可以快速、自信地工作,而不存在损坏或丢失样品的风险。


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基于第9代探针设计,OmniProbe 350提供精确的纳米级控制。其紧凑的端口安装设计,最大限度地减少与其他探测器和附件的干扰。凭借稳定的探针平台和亚纳米压电马达,这一代的探针具有低振动、低漂移和卓越的定位精度。再结合直观的用户界面,其运动方向是基于所见的图像进行校准的。

其结果是为常规样品提取(lift-out)提供了一流的性能。结合可变倾角栅网样品台,OmniProbe 350可以轻松制备plan-view样品和TKD样品,而无需手动处理栅网或复杂的多步骤提取。

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OmniProbe 350

Discover why OmniProbe 350 is the best-in-class 3-axis nanomanipulator for fast and efficient routine TEM Lamella preparation

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优越的线性度——线性度测量的是探针尖端与要求的运动方向之间的偏差。在所有方向上可以沿直线移动的探针可以:

  • 安全的提取,而不会碰到槽壁
  • 制备TEM薄片更快,只需要开挖更小的沟槽

直观的用户界面——通过软件控件探针就像直接在电子图像中移动

平滑的连续运动——薄片制备工作流程要求探针进行物理接触,平滑运动确保这一过程不会有掉落或损坏样品的风险。

精确移动——可存储位置

  • 点击一下,即可从完全缩回位置移动到操作位置
  • 保存用户定义的工作位置

稳定的探针平台——稳定是对抗振动和漂移的。将样品附着到探针尖端是通过气体沉积过程完成的,该过程可能需要几分钟。在此过程中,尖端的任何漂移或振动都可能导致样品内部产生应力,或样品在自由切割点处突然移动

  • 稳定的Omniprobe平台使闲置时的振动和漂移降至最低,降低了这些风险

端口安装式设计——在不使用时完全缩回腔室,因此不会影响您的显微镜

  • 不限制样品大小
  • 不限制样品台倾斜
  • 不干扰其他探测器或附件

探头电气连接——包括用于电压衬度成像的+/-10V电源

  • 低噪音选项可与第三方电子设备结合,以执行EBIC、EBAC和其他电气测试方法。 

请使用下面的比较表,帮助您为应用选择最佳的OmniProbe并比较指标。

SPECIFICATION                                                    OMNIPROBE
Cryo OmniProbe 350 OmniProbe 400
Linearity 500 nm 500 nm 250 nm
Encoder resolution 100 nm <50 nm 10 nm
Insertion repeatability 5 μm 5 μm 2 μm
Min velocity 100 nm/s 50 nm/s 10 nm/s
Max Velocity 250 μm/s 250 μm/s 500 μm/s
Compucentric rotation
APPLICATION
Site specific lift-out
Plan-view P P
Vent free plan-view
Backside Thinning P
Atom Probe tomography sample preparation P P
Cryogenic liftout
Voltage contrast imaging ✔*
Charge neutralisation
On-Tip analysis
EBIC measurements O O
EBAC measurements O O
In Situ tip change O

P:需要OmniPivot 样品台;O:选配;*:当连接低温时不可用

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