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Probes
纳米操作手

用于FIB和SEM的OmniProbe纳米操纵手自1995年以来客户口碑较好,市场占有率较高,多种型号可满足不同的预算和应用。

Omniprobe的多种型号囊括了从开环反馈到闭环反馈,从伺服电机到压电技术的产品,可实现不同精度的TEM薄片样品制备及其它纳米操作方法,用户可从中选择适合的纳米操作平台。 

OmniProbe纳米操纵手以其有效性和易于操作和使用而闻名,用户可以:

OmniProbe是固定在电镜的一个口上的,由PC端控制。当需要它的时候它总在那里,不需要的时候也不会形成障碍。 它巧妙的设计保证了电镜其它功能的使用,即使样品台倾转到最大角度,也可以无障碍地使用它,同时不会对其它附件的使用产生干扰。 Omniprobe纳米操作手的工作模式可以很好地对样品xyz方向进行操控,从而使各种样品的制备更容易,成功率更高。

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OmniProbe 400

本手册介绍了我们纳米操纵手旗舰版OmniProbe 400的功能和优点。

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EBIC 和 EBAC 分析

E3系统可实现SEM和FIB中对器件/样品的电学性能表征(EBIC、EBAC和电流探测)。 这本8页的小册子概述了E3产品。

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高质量的TEM薄片制备和针尖分析

在这里,我们展示了一种新技术,可以测量TEM薄片局部的厚度和成分,并讨论其在器件失效分析中的应用。

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