AZtecOne

AZtecOne系统结合了简单易用而功能强大的AZtecOne软件和 X-Max 20mm² 或 x-act 10mm² 硅漂移探测器的稳定性和准确性。AZtecOne系统是尽可能快速、轻松地完成EDS这样的复杂任务的理想解决方案。

不需要大量的EDS技术培训或高深的知识。用户可以在几分钟内掌握，并且对他们的结果完全有信心。

简单、直观
准确、可靠
快速、高效
多用户实验室的理想之选

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概述

简单、直观

有了AZtecOne，用户手上就有了轻松、快速完成任务所需的必要工具；
流畅的界面减少了获得结果需要的操作步骤；
新用户可以在几分钟内掌握操作；
即使不经常使用的用户也不需要在每次分析前重新培训。

准确、可靠

AZtecOne在后台努力工作，所以用户不必担心和峰、峰重叠和其他潜在的假象；
Tru-Q^® 技术确保用户可以信赖自动检测到的元素，并得到正确的结果报告；
TruMap (选项)可确保在元素面分布图和线扫描上显示真实的数据分布

快速、高效

AZtecOne专注于尽可能快地得到结果：快速的设置，实时的结果显示，只需点击一个按钮即可生成报告；
从图像到报告只需几秒钟；
在采集过程中完全交互；
在采集过程中,用户可以与当前项目或已保存的项目中的数据进行交互；
快速、直接地生成报告；
选择报告中所需的内容（面分布图、谱图、线扫描）, AZtecOne 将完成剩下的工作。

x-act
X-Max

x-act是一种完全定量的SDD，不管是在低计数率还是在高计数率下都具有出色的性能。它具备牛津仪器着名技术的所有优点，适用于不要求大面积Ultim Max或X-MaxN探测器的全部性能的应用。

x-act融合了牛津仪器40年的专业知识，并得到全球销售，服务和客户支持专家的支持。

可靠的AutoID用于元素识别；
准确的定量 - 所有计数率；
峰值偏移和分辨率变化稳定保证在1,000到100,000 cps之间；
以非常高的计数率进行全面的软件校正，包括堆积校正；
从Be到Pu的检测，具有出色的低能量分析特点；
SEM中使用MnKa，FKa和CKa上都能保证分辨率；
符合ISO 15632：2012标准；
集成的分析硬件链，可以实现快速、可靠的分析性能；

SDD检测器 - 无LN2操作

Si（Li）探测器的计数率高达10倍 - 可提高检测速度并且不会降低分析性能。

X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片，采用数字信号处理和创新封装技术，可以提供很高灵敏度，精确分析几乎所有类型的样品，包括易碎样品和纳米材料。

X-MaxN硅漂移探测器的面积为 20 mm²

A range of silicon drift detector sizes, from 150 mm² to 20 mm²
X-MaxN可提供与传感器尺寸无关的超高分辨率 - 符合ISO15632：2012的规格
显微镜内部的相同机械几何形状意味着计数率仅与传感器尺寸成比例关系增加
可对包括Be元素在内的元素进行出色的低能量分析

性能与尺寸无关

由于采用外部FET设计，X-Max N分辨率和低能量检测能力与传感器尺寸无关；
相同的传感器位置意味着计数率仅与传感器尺寸成比例地增加；
可对包括Be元素在内的元素进行出色的低能量分析。
不需要LN₂. X-Max^N可以在几分钟内准备好开始工作。

优点

自最小纳米粒子最大化地获取特征信息；
脉冲堆积校正的定量分析，每秒计数100次；
能更快地检测低浓度的次要元素；
在极不稳定的样品上仅使用很小的pA就可获得X射线图谱。

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