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X-MaxN

X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片,采用数字信号处理和创新封装技术,可以提供很高灵敏度,准确分析大部分类型的样品,包括易碎样品和纳米材料。


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X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片,采用数字信号处理和创新封装技术,可以提供很高灵敏度,准确分析大部分类型的样品,包括易碎样品和纳米材料。

X-MaxN硅漂移探测器的面积为 20 mm2 

  • X-MaxN可提供与传感器尺寸无关的超高分辨率 - 符合ISO15632:2012的规格
  • 显微镜内部的相同机械几何形状意味着计数率仅与传感器尺寸成比例关系增加
  • 可对包括Be元素在内的元素进行出色的低能量分析

性能与尺寸无关

  • 由于采用外部FET设计,X-Max N分辨率和低能量检测能力与传感器尺寸无关;
  • 相同的传感器位置意味着计数率仅与传感器尺寸成比例地增加;
  • 可对包括Be元素在内的元素进行出色的低能量分析;
  • 不需要LN2 。X-MaxN在可以在几分钟内准备好开始工作。

 

优点

  • 自最小纳米粒子更优化地获取特征信息;
  • 脉冲堆积校正的定量分析,每秒计数100次,
  • 能更快地检测低浓度的次要元素;
  • 在极不稳定的样品上仅使用很小的pA就可获得X射线图谱。

下载中心

AZtecOne 和 X-MaxN 20

简单易用且功能强大的AZtecOne EDS分析软件与经过稳定性和准确性验证的X-MaxN20SDD相结合,为SEM中的EDS分析提供了强大的解决方案。

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SDD 解释

本指南介绍了SDD硬件如何检测和测量X射线,并将其转换为可供EDS软件使用的信号,以提供准确可靠的分析。

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