用于FIB和SEM的OmniProbe纳米操纵手自1995年以来客户口碑较好，市场占有率较高，多种型号可满足不同的预算和应用。

Omniprobe的多种型号囊括了从开环反馈到闭环反馈，从伺服电机到压电技术的产品，可实现不同精度的TEM薄片样品制备及其它纳米操作方法，用户可从中选择适合的纳米操作平台。 

OmniProbe纳米操纵手以其有效性和易于操作和使用而闻名，用户可以：

• 中和样品表面富集电荷；
• 测量纳米结构的电学性能（EBIC，EBAC，电流探测）；
• 在FIB中进行TEM样品制备，包括平面样品和背切样品；
• 在SEM中制被以用于TEM和原子探针观察；
• 制备用于TEM、EDS及其它分析所需的高质量样品；
• 冷冻提取。

OmniProbe是固定在电镜的一个口上的，由PC端控制。当需要它的时候它总在那里，不需要的时候也不会形成障碍。 它巧妙的设计保证了电镜其它功能的使用，即使样品台倾转到最大角度，也可以无障碍地使用它，同时不会对其它附件的使用产生干扰。 Omniprobe纳米操作手的工作模式可以很好地对样品xyz方向进行操控，从而使各种样品的制备更容易，成功率更高。