AZtecClean Software - Nanoanalysis

AZtecClean在 AZtecFeature 颗粒物分析平台上，根据清洁度分析的特点，内置了相应的分类方法和国际标准。它可以自动检测、识别符合ISO 16232和VDA 19等国际标准的颗粒，并导出这些颗粒的汇总报告，报告格式符合标准要求。

AZtecClean能够保证所有的颗粒都能被快速、轻松和准确地分析，其结果可以帮助确定污染物的来源和制定适当的补救措施。

AZtecClean使用牛津仪器 Ultim Max 或 Xplore 系列能谱仪和 ZtecLive Tru-Q算法，能够确保在高通量的快速颗粒物检测中的高水准元素识别和定量，保证检测结果的可靠性。

Montaged image of an entire filter holding detected partcles

使用AZtecClean自动检测的整张滤纸上的颗粒

专业

符合行业标准的颗粒物分类方法
根据ISO 16232和VDA 19自动获取颗粒数据和报告，生成清洁度代码（CCC）

Label	A	B	C	D	E	F	G	H	I	J	K
Class/Length (μm)	<5	5.0-15	15-15	25-50	50-100	100-150	150-200	200-400	400-600	600-1000	>1000
All Features	1861	20852	9249	5795	1116	189	61	30	3	0	0
Ferrous Metals	148	2241	1628	1896	343	58	17	10	1	0	0
Steel - Low alloy	136	2063	1515	1781	326	53	16	10	1	0	0
Steel - Cr	11	143	100	96	12	4	1	0	0	0	0
Steel - High alloy	1	35	13	19	5	1	0	0	0	0	0
Non-Ferrous Metals	16	132	55	26	2	0	0	0	0	0	0
Copper	0	4	4	3	0	0	0	0	0	0	0
Brass	1	7	4	4	1	0	0	0	0	0	0
W	1	2	1	3	0	0	0	0	0	0	0
Ti	12	107	34	15	1	0	0	0	0	0	0

CCC=V (B15/C14/D13/E11/F8/G6/H5/I2/JK00)

颗粒物分类表

预置的清洁度分类方法可以识别并分类常见颗粒，分类方法支持自定义

灵活

可添加、编辑颗粒的分类方法
自动获取颗粒的形貌、尺寸和成分等多元信息
可设定自动终止分析条件，如识别到的污染颗粒达到某数值后停止检测
软件支持定位到感兴趣颗粒并对其进行更细节的分析
与其他分析手段（如 WDS、EBSD等）无缝对接

快速

可配置多达4个Ultim Max探测器，提高检测效率
颗粒分析最快可达120,000个颗粒/小时（取决于硬件配置）

准确

自动重建被分割到几个视场的大颗粒，确保正确的形态测量，这对于正确计算部件清洁度代码至关重要

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视频

AZtecClean: 参数设置和数据采集

使用AZtecClean对清洁度分析进行高效、快捷地参数设置和数据采集。

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By utilising FeaturePhase to analyse the saturated particle in the centre of A, it is possible to determine that two phases (steel & Silicate) within the particle, in B.

(A) Separation of Features that can't be Separated with Backscatter Electron Image (BSE)

By utilising FeaturePhase to analyse the saturated particle in the centre of A, it is possible to determine that two phases (steel & Silicate) within the particle, in B.

(B) Separation of Features that can't be Separated with Backscatter Electron Image (BSE)

By utilising FeaturePhase to analyse the saturated particle (A), it is possible to determine that two phases (steel & silicate) are present within the particle (B).

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