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用于SEM中常规分析的Xplore能谱探测器

Xplore能谱探测器的推出完善了牛津仪器能谱产品系列,使得广大用户可以使用AZtecLive实时元素分布功能。

  • 30mm2 有效晶体面积
  • 在用户电镜上保证Mn Kα<129eV分辨率
  • 最大计数率超过1Mcps
  • 全部零件现场可更换,保证最少的宕机时间
  • 支持两个软件平台:
    •   AZtecLiveLite
    •   AZtecLiveOne

Xplore是SEM常规分析所用新一代EDS探测器。探测器有效晶体面积为30mm2 ,应用范围广泛。

Xplore使用了Ultim Max探测器中诸多新技术,它提供了实时EDS分析所需的快速数据采集,同时保证了常规分析所需的自动可靠的结果。

速度-Extreme电路与X1脉冲处理器的结合使Xplore能够以1,000,000 cps的计数率进行面分布分析,并以100,000 cps的速度进行准确定量分析

灵敏度-新的紧凑型设计使得探测器体积小巧且便于现场维修,更大限度地延长工作时间并减少宕机时间

Extreme电路-Xplore结合了先进的Extreme电路,提供尽可能低的噪音信号检测和处理。确保在高计数率下获得优异的能量分辨率和谱图质量,保证在100,000 cps下获得129eV Mn Kα分辨率

应用

高计数率的Xplore硬件,简单易用的软件以及AZtecLive实时元素成像相结合的技术可在诸多领域发挥重要作用:

  • 失效分析
  • 质量控制
  • SEM下常见法医鉴定

质量控制应用的理想工具

  • 快速定位质量控制样品和正常样品进行点分析,获得谱图实时对比。

假冒或侵犯专利产品的识别

  • 生产和销售假冒药品是一个全球性的问题(估计每年损失1600亿美至2000亿美元)。此外,除了金钱上的损失,还有潜在的有害产品进入消费领域的风险。
  • AZtecLive可以帮助您轻松看到品牌产品和可疑假冒产品之间的关键元素成分及分布的不同或相似之处。

层状及化合物样品

  • 造纸厂为获得不同性能的产品使用不同添加剂和涂料。例如,碳酸钙可以减少纸张收缩并增白。
  • 制备横截面样品是研究其结构的好方法。电子图像及能谱面分布图的叠加图清晰显示不同层结构、镀层及添加剂的分布情况。

AZtecLive中与样品实时交互

  • 在AZtecLive界面中可实时获得电子图像及元素面分布,一边移动样品观察其形貌变化,一边观察元素分布变化,直到移动至感兴趣的区域,使找样过程更加方便。
  • 点击了解更多AZtecLive信息

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