全自动原位拉伸/加热成像与分析解决方案网络研讨会

课程简介

随着研究的深入，基于扫描电子显微镜（SEM）的原位分析在材料研发人员中受到越来越多的关注。在原位分析时，同时获取多种信号一直是用户希望实现的目标。其中，使用EDS和EBSD分析微区的成分和取向信息是非常重要的原位观察内容。

原位实验不同于常规实验之处在于，它要求探测器具备足够的灵敏度，能够高速采集信号，从而提高实验效率。另外，原位加热实验条件下EDS和EBSD探测器必须处理红外辐射造成的干扰。为此，牛津仪器推出了针对原位实验的新型EDS和EBSD探测器。全新的硬件设计能够有效地应对红外辐射，在高温条件依然保持高灵敏度，探测器的采集速度与常温条件无异。此外，常温条件下的表现与常规探测器一样优异，这意味着他们可以同时应对常温和高温条件下的测试需求。

为了让感兴趣的人深入地了解牛津仪器针对原位实验的EDS和EBSD探测器，我们与蔡司显微镜部门计划于6月29日举行联合网络讲座。在讲座中，牛津仪器和蔡司显微镜的应用人员将分别从实际应用的角度介绍原位实验涉及到的SEM成像和EDS&EBSD分析。为了让观众直观感受这套原位分析系统的便捷操作，还将在线展示原位实验的操作过程。

报告嘉宾

陈帅   牛津仪器资深应用专家

2015年3月毕业于日本京都大学材料工学专攻，获工学博士学位，博士期间主要研究超细晶亚稳态奥氏体钢的相变诱发塑性和马氏体相变。毕业后先后在钢铁和材料分析相关企业从事产品开发以及材料分析工作。2018年加入牛津仪器，主要负责EDS、WDS、EBSD、OP技术的推广及支持。

 

高迪   蔡司中国显微镜资深应用专家

硕士毕业于北京工业大学，2017年至今在蔡司显微镜部担任应用技术专家，在电子显微学及微纳加工等相关领域有多年工作和学习经验，为国内近百余客户进行了应用培训和成像演示工作，协助用户解决SEM及FIB应用问题。熟悉SEM和FIB在材料科学、化学物理、半导体科学等领域的应用。

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