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Ultim® Max

Ultim Max是新一代硅漂移型探测器(SDD),配有大面积晶体和低噪音电子元器件,分析速度和探测灵敏性都有大幅提升。


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Ultim Max采集效率可达以往的17倍,而且不会降低精度。无论您是想做更大区域的面扫描,或者在每个点分析中获得更好的统计数据,更快地采集数据,还是研究最小的纳米结构,Ultim Max都是SEM中X射线分析的理想工具。

速度 - 低噪音电子元器件和X4脉冲处理器的结合,使Ultim Max能够在1,500,000 cps的计数率下对样品进行面分析,并在400,000 cps计数率下进行精确定量。

灵敏度 - 晶体尺寸有着很大影响。使用Ultim Max的大面积晶体(100 mm2和170 mm2),可大幅提高极端分析条件下的计数率。

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AZtecLive & Ultim Max

AZtecLive通过实时化学成像将EDS技术从静态转推向动态,它需要搭配新一代Ultim Max进行工作,在提高效率的同时增加探测灵敏度。    

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SDD 指南

本指南介绍了SDD硬件如何检测和测量X射线并将其转换为可供EDS软件使用的信号,以提供准确可靠的分析。

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