产品
FIB-SEM
Nanomanipulators
OmniProbeOmniProbe Cryo软件
AZtec3DAZtecFeatureAZtec LayerProbeTEM
Hardware
EDSUltim MaxXploreImaging
软件
AZtecTEM
其中r为粒子半径,f为析出相体积分数
Orowan绕过机制模型:
其中d为粒子半径
表面形貌的定量统计
公安机关备案号31010402003473