Imaging of Layered Polymer Structures and Failure Analysis

The compact Xplore Silicon Drift Detector (SDD) is the ideal detector for routine EDS analysis in the SEM. The introduction of Xplore complements Oxford Instruments comprehensive…

SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合，灵敏度比传统大面积SDD高15倍。

INCAEnergy+结合了WDS的灵敏度、分辨率和EDS的生产率、易用性。 INCAWave软件提供了WDS的灵敏度、分辨率，并提高了生产率。

Layerprobe 是SEM中用于薄膜分析的一个令人兴奋的软件工具。与专用的薄膜测量工具相比，AZtec EDS微观分析系统中的选配功能Layerprobe，速度更快、性价比更高、分辨率更高。