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岩石中的晶粒取向和它们所承受的应力是岩石历史的有力指征,并且对其物理性质具有强烈的影响。这意味着有关晶粒织构的信息可用于工业和学术领域中,因此我们需要进一步了解这些属性。
获得岩石样品的化学成分,织构和晶体学等信息可令人较全面地了解这些因素如何相互作用进而决定该岩石的特性,这反过来又可以得知它在建造时应该如何处理或者形成的条件或者它在历史上经历过哪些重要的事件。
为了充分了解岩石形成过程及赋存状态,必须结合多种信息来源。
使用EBSD和EDS方法分析地质样品可以同时获取晶体学和成分信息。这使得成分变化与晶粒织构或择优取向方向匹配,或者用于识别哪些相存在等一些附加的信息。这又反过来告知了晶粒是如何形成的以及它们曾经历过的水纹地质变化。
可以研究变形和未变形的样品 - 包括测量其应变及变形量。
仪器的Symmetry CMOS EBSD与Ultim Max EDS二者结合,实现高灵敏性,高速度的一体化系统,专门针对低对称性、相似结构、复杂的晶体分析。