在整个产品工程和质量控制中晶粒分析十分重要。机械性能（如抗拉强度和成形性）随着晶粒尺寸的减小而提高。因此，必须对加工工艺进行控制以获得理想的晶粒尺寸。

为了准确地测量晶粒尺寸,探测所有的晶界必不可少。因此，必须对晶界进行准确表征。

晶粒尺寸测量的传统方式是分析显微镜采集的图像。它需要对样品表面进行化学腐蚀以突出晶界。这种技术除了对小尺寸晶粒的表征具有难度之外，还有其他局限性。

图像分析技术的局限性如下所示：

顶部的图像是一个轧制镀锌钢的显微图像。这种材料具有复杂的微观组织和晶界，在低倍光镜图像中的无法识别单个晶粒。

底部的图像来自相同样品、相似视野下的SEM二次电子图像。图中晶粒和晶界均无法很好的标识。

EBSD是一种理想的微观结构表征和晶粒尺寸测定技术。

使用EBSD对相同样品进行数据采集，通过测量晶体的取向来准确地测量晶界，克服了图像分析技术的局限性。

上图首先显示了EBSD识别的晶界分布，通过识别这些晶界可以定位单个晶粒。

这张图中利用不同颜色表示不同的晶粒，显示了材料中晶粒尺寸的分布范围，并由此导出了晶粒尺寸的统计分布。

很明显，利用EBSD可以方便、准确地识别样品中的晶粒。

除了分析单个视野外,还可以进行自动大面积分析,从而提供可靠有效的统计数据。在这个例子中，对同一种钢棒截面的四分之一部分进行了分析，分析区域的半径为6毫米。大面积分析可以帮助研究从钢棒中心到边缘的晶粒组织演化。