产品
FIB-SEM
Nanomanipulators
OmniProbeOmniProbe Cryo软件
AZtec3DAZtecFeatureAZtec LayerProbeTEM
Hardware
EDSUltim MaxXploreImaging
软件
AZtecTEM
食品中异物或污染物的发现引发了这些问题;
然而,最重要的问题可能是:
因此,解决这个问题的第一步是识别污染物或外来物质,以便确定潜在的污染源。
当食品的污染是离散颗粒时, 可以很容易地去除、清洗并通过 EDS X射线光谱法将其呈现给扫描电子显微镜进行元素分析。鉴于食品生产中污染可能有多种来源(如原料的加入、处理和加工、储存和运输等过程),需要识别的材料范围可能很广泛。ED X射线光谱法具有识别广泛材料的元素组成的能力,是识别未知污染物的多用途工具。
虽然鉴定污染物中的元素可提供足够的信息来识别材料,但有时这些元素列表可能只用于识别钢铁或玻璃等材料的类别。在整个生产过程中,食品可能会接触到许多不同的玻璃或钢,对特定的玻璃或钢进行更具体的鉴定, 对分析员识别污染物的来源将是非常有益的。利用ED X射线光谱定量分析程序,可以获得污染物的具体成分,从而识别特定的钢铁或玻璃,并提供额外的信息,以确定污染的确切来源。
返回至 农业与食品