对小麦叶片进行了含氟异吡嗪和含氯环丙康唑两种杀菌剂的混合处理。利用X射线元素成像法可以测量出杀菌剂在叶片表面的分布情况，从而揭示与每一种杀菌剂有关的元素的位置。为了能够直接研究杀菌剂在叶片表面的分布情况，在分析过程中需要对叶片的结构进行保护和维护。将处理后的叶片样品在液氮中浸入冷冻，不仅可以就地冷冻杀菌剂，而且还可以稳定叶片的结构，以便在扫描电镜的真空中进行分析。

从冷冻叶片中采集X射线元素图，对处理后的叶片表面进行直接分析。由于处理叶片的每一种杀菌剂都富含一种特定的元素，异丙嗪(富F)或环丙康唑(富Cl)，对氟和氯的成像显示了杀菌剂在处理过的叶片表面的位置。

尽管样品被冷冻以在真空下保持稳定，但当使用高能电子束扫描表面并产生x射线信号时，它们仍有可能被引入的热量损坏。使用较低能量的电子束，可以减少扫描电子束对样品造成的潜在损伤。然而，这将降低样品产生的X射线信号的强度，X射线信号用于提供X射线元素图。大面积 Ultim Max 硅漂移ED X射线探测器是在这些预计X射线计数率较低的情况下分析样品的理想选择。

在这个例子中，为了限制样品的损伤，使用了6kv的低光束加速电压。随后由于使用这种条件而产生的较低X射线计数率很容易通过使用大面积探测器来抵消。因此, 需要3分钟的分析时间得到一个有用的结果, 以显示叶片表面的杀菌剂分布情况。