产品
FIB-SEM
Nanomanipulators
OmniProbeOmniProbe Cryo软件
AZtec3DAZtecFeatureAZtec LayerProbeTEM
Hardware
EDSUltim MaxXploreImaging
软件
AZtecTEM
右侧视频展示的是使用Unity检测器和BEX技术分析电子元器件的元素分布及器件质量。Unity的高通量特性可以快速识别器件潜在的故障及与其相关的元素偏差,也可以对样品进行大面积快速检测,了解器件的全貌。
视频内容简介:
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