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AZtec 软件

AZtecCrystal 4.0

AZtecCrystal 是牛津仪器(Oxford Instruments)旗下一款现代化、创新性的电子背散射衍射(EBSD)数据处理软件,专为新时代高速 EBSD 探测器以及不断拓展的 EBSD 应用场景而设计。该软件自 2019 年首次发布以来持续迭代优化,如今其易用性与功能特性同时满足新手与资深专家的各类需求。

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完美图像关联

完整织构分析

全面边界表征

极速晶粒测量

AZtecCrystal 4.0

AZtecCrystal 是一套用于处理电子背散射衍射(EBSD)采集数据的综合性软件包。其设计既满足了 EBSD 技术新手所需的易用性,又配备了资深操作人员开展深度材料表征、衍射花样再分析所需的高级工具。

探究 EBSD 数据集从未如此简便。AZtecCrystal 拥有直观且灵活的友好用户界面 —— 无论你是偶尔使用 EBSD、仅需快速调用常规功能的普通用户,还是希望从样品中提取详细微观结构信息的 EBSD 专家,AZtecCrystal 都是为你量身打造的。

无论你对 EBSD 数据分析有何种需求,AZtecCrystal 都能精准满足。AZtecCrystal 的全新功能包括:

STAMP

  • 新 STAMP 工具支持将第三方信息写入原始 H5OINA 格式文件
  • 该功能可利用文件名内的信息实现自动关联导入
  • 同时,支持从多格式文件中导入外部实验数据,例如温度、载荷及延伸量等参数。

Crystal Batch

  • 一键将AZtecCrystal的处理方式应用于数百个面数据。
  • 实现一致可靠的数据处理,是质量控制的理想选择。

Crystal Compare

  • 一键编辑并可视化您的数据集
  • 首次实现实验参数与特定图层的关联
  • 用Crystal Compare展现关键数据点
立即升级

分析EBSD数据集从未如此简单。AZtecCrystal拥有直观灵活的用户界面,操作便捷。无论您是偶尔使用EBSD的用户,只需要进行常规操作;还是希望从样品中提取详细微观结构信息的EBSD专家,AZtecCrystal都为您量身打造。

应变分析
基于花样匹配的常规应变分析

颗粒分析
基于每一个颗粒建立球坐标系进行织构分析

MapSweeper - 花样匹配
集基于存储的EBSP进行花样匹配标定挖掘数据

分类工具
基于机器学习的微观结构组分的再分类

AZtecCrystal运用花样匹配技术挖掘数据。借助MapSweeper功能,解决未标点、优化解析解并将分析提升至全新高度。该技术能准确区分结构相似相、提升变形材料测量精度、计算晶格参数比与应变区域等,功能远不止于此。

  • 采用与Aztec相同主题风格与模块布局的直观界面
  • 多种可选视图模式,方便调用必要分析工具
  •  独立项目树与设置面板,简化数据及工具管理
  • 主工作区窗格可分离,支持多显示器查看
  • 支持自定义缩放,适配不同屏幕分辨率
  • 数据分析模式与MapSweeper模式可轻松切换
  • 支持多国语言
  • 面分布图以标签或(关联)图块形式展示
  • 多图交互模式(包括点位与晶粒选择、截面测量及子集创建)
  • 紧凑型图例显示,可随地图导出
  • 单个图层实现无限自定义地图创建——任意分布图均无图层数量限制
  • 多重地图图层,均可完全自定义,包括:
    • 花样质量与差异 
    • SEM图像颜色与数值
    • 取向分布图 
    • 织构组成
    • 应变与变形(GND密度、KAM)
    • EDS元素分布
    • 晶粒尺寸、形状及内部取向分布
    • 晶粒/亚晶粒/相界
    • 特殊晶界(含孪晶与重合位置点阵晶界)
    • 取向与晶格关系
    • 位错及加权伯格斯矢量
  • 独立显示所有单一分布图数值与分布
  • 位错剖面分析工具,支持可变宽度与多组分显示
  • 导航器,显示相对于完整数据集区域的位置

  • 全面可定制的极图(PF)
  •  全面可定制的反极图(IPF)
  •  全面的取向分布函数(ODF)
  • 用户自定义设置,包括ODF计算与显示、密度等值线绘制、投影选择等
  • 极图计算与显示
  • 样品对称性选项
  • 数据旋转以校正样品放置误差
  • 用户自定义粒度测量
  • 高速算法——15秒内完成20,000个颗粒测量
  • 多晶粒模型显示
  • 晶粒尺寸直方图显示(含算术加权与面积加权统计)
  • 晶粒尺寸数值符合ASTM E2627标准
  • 晶粒尺寸列表过滤实现高级数据子集筛选
  • 孪晶晶粒统计分析
  • 参数关联工具用于识别晶粒测量值间的关联关系
  • 支持从同一AZtec感兴趣区域选择并显示任意电子图像(如前散射、背散射电子或二次电子图像)
  • 可调节EBSD叠加透明度的功能
  • 全面失真校正以修正EBSD测绘过程中的漂移: 
    • 简易模式:校正连续的漂移或失真
    • 扩展模式:利用电子图像与EBSD图中特征的共定位关系 
    • 校正后的EBSD数据可保存为新数据集供后续分析
  • 采用运动学、双束或多束动力学模型实现全EBSD图案模拟
  •  实验与模拟图案间的快速图像交叉相关分析
  • 高精度校准优化工具
  • 花样加权或遮罩处理,提升含阴影或强信号波动图案的匹配精度
  • 多种“清扫”模式: 
      • 标定——采用创新动态花样匹配法实现全局重新标定
      • 优化——基于现有和/取向结果提升数据质量:
        • 取向优化
        • 伪对称性校正(包括晶体极性测量)
        • 相区分
        • 应变分析
  • 修复——纠正误并迭代移除未标点
  • 分析采用局部像素几何校准以提升精度
  • 所有分析(除“标定”外)可在普通PC/笔记本上运行——无需GPU
  • 再分析速度可达>1000 Hz
  • 多领域应用——高度变形材料、纳米晶样品、高精度位错分析、半导体极性测定等
  • 更多MapSweeper详情及应用案例请访问ebsd.com。

EBSD软件最新进展

本文探讨了我们在EBSD采集与数据处理方面的最新进展,包括:AZtecHKL中新增的引导式工作流程,可协助设置并运行透射菊池衍射实验;以及AZtecCrystal中新增的多功能母晶粒分析查看模式,该模式能快速重建母相晶粒微观结构。

预计观看时长:7分钟


AZtecCrystal 演示

观看我们最新的 AZtecCrystal 互动演示,了解当今市场上最先进的 EBSD 数据处理软件的速度、灵活性和智能性!


教程:教程:使用AZtecCrystal进行高效EBSD数据处理AZtecCrystal演示

本教程将涵盖数据处理的基础步骤,如数据清理和晶粒尺寸测量,同时涉及更高级的分析工具,例如母相重建和弹性模量计算。

预计观看时长:26 分钟

专为关键应用量身定制

AZtecCrystal可对任何EBSD数据集进行快速、高通量的分析。该软件在优化速度的同时兼顾易用性,为不同专业水平的用户提供EBSD技术的全面应用能力。主要应用领域如下,但AZtecCrystal同样适用于EBSD技术的任何应用场景:

更多应用

以下是AZtecCrystal被用于揭示新信息的若干应用场景:

  • 理解裂纹在材料中的扩展机制是设计抗失效材料的关键。
  • AZtecCrystal提供多种工具,助力研究人员探究裂纹尖端塑性应变的累积过程,并分析晶粒结构、取向与裂纹扩展之间的关联。
  • 在马氏体钢、钛合金等众多材料中,了解母相晶粒显微组织至关重要,因为它对最终晶粒粒度及材料强度有着显著影响。
  • AZtecCrystal 软件集成了一套全面的母相晶粒分析工具,可基于取向关系重构母相显微组织,实现对原奥氏体显微组织的晶粒度、晶界特征及织构的完整分析。
  • 织构,即晶粒的择优晶体学取向,决定了材料的多项关键性能,是轧制钢等绝大多数加工金属的重要测量指标。
  • AZtecCrystal 提供了材料织构测量与分析所需的全套工具,包括取向分布函数(ODF)、极图与反极图、可自定义织构组分图,以及多种计算织构占比的方法。
  • 研究岩石在应力、应变以及温压条件变化下的响应,是理解板块构造、地震成因与成矿作用的基础。
  • AZtecCrystal 可快速输出分析结果,通过图像化展示或晶界取向差分析等高级方法,直观呈现岩石的变形过程。
    • AZtecCrystal 软件内置材料性能模块,可基于各晶粒的取向计算材料的弹性性能。
    • 该功能支持研究人员直接将原始 EBSD 数据转化为材料关键物理性能信息,例如 3D 打印 Ti64 合金中成型方向与屈服强度的关联分析。
    • 元器件的电性能与晶粒内部及晶粒之间的晶体学界面分布密切相关,对其进行调控即称为晶界工程。
    • AZtecCrystal 可快速表征晶界分布,定量分析特殊晶界(如重合位置点阵晶界)的占比,并实现纳米至微米尺度晶粒尺寸的精准测定。

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