牛津仪器集团成员
扩展

AZtec 6.3 版本免费升级

AZtec 用户将首次享受软件免费升级服务。新版软件具备全新报告导出功能、相分析、选区工具及更完善的探测器安全保护,搭载 AZtec 系统的科研人员可充分利用最新的数据采集、数据处理与报告导出功能。

立即升级,充分发挥您的 EDS、EBSD、BEX 及 RISE 系统性能。

AZtecLive 宣传册 立即免费升级

批量导出与 HTML 项目报告

RISE导航器工具

魔棒选区工具

全新自动相分析功能

AZtec 6.3 版本免费升级

实时化学成分成像

实时化学成分成像结合样品导航功能,为所有用户带来实时动态分析体验。全新的实时化学成分成像功能搭配 Ultim 大面积晶体探测器,可让您以更快速度、更高置信度开展样品分析,效果远超以往。


实验炉渣样品分析

实验炉渣样品分析:借助 AZtecLive 操作界面,可通过实时化学成分反馈对样品实现快速、全面的分析表征。

开展炉渣研究的目的多样,包括探究古代金属冶炼工艺、优化现有金属生产流程等。其中,物相组成及各物相化学成分是研究重点。在本案例中,软件可实时高亮显示不同化学成分的尖晶石相。在样品移动过程中,可清晰观察到各类铬尖晶石,以及部分含铁包裹体的铝尖晶石。


污染物快速检测

本例展示 Ti6Al4V 钛合金的细小粉末样品。作为轻质合金,它具备优异的力学强度、耐腐蚀性、低比重及生物相容性,非常适用于航空航天、赛车等高精端工程领域,也可用于制造生物医学植入体。

高品质金属 3D 打印要求使用超高纯度(>99.9%)粉末,但其检测难度较高,因为污染物往往仅以痕量浓度存在。视频展示了如何通过实时化学成分成像,识别出源自其他粉末的细小钨颗粒污染物分布;进一步分析还检测到少量镍基高温合金颗粒。


药物片剂检测

产品中异物识别是最常见的应用场景。无论污染物来源于原材料还是生产过程,追溯其污染源是杜绝后续问题的关键。这类异物可能导致产品不合格,严重时甚至会对消费者造成伤害。

在以下案例中,研究人员首先利用 AZtecLive 化学成分成像对片剂的结构与成分进行快速整体表征,随后通过能谱比对及 X 射线面扫分析开展更深入的详细研究。


印刷电路板(PCB)分析

通常采用光学显微镜对失效 PCB 进行检测,记录缺陷位置,例如虚焊、裂纹或生产过程中产生的污染物。

将这些缺陷在光学图像上标记并导入 AZtecLive 后,可快速重新定位这些区域,利用 SEM-EDS 进行详细分析,从而确定污染物来源。

EDS 元素面分析

将多种元素的 EDS 面扫图谱叠加在电子图像上,生成信息丰富的彩色合成图像,已逐渐成为观察样品中元素分布的常用方法。但至关重要的是,需确保这张美观图像背后的分析数据真实可靠。

分层图像全面展现了组分和相分布情况。

SmartMap 能谱面分析技术将自动定性分析拓展至二维成像,可精准识别元素并直观呈现其分布特征,让样品中所有元素的分布一目了然。

  • 无需预先了解样品信息
  • 自动识别并生成所有元素的面分布图像
  • 单层合成图像可在数秒内清晰突出化学成分与物相分布
  • 最高支持 4K 分辨率,兼顾大视场与高分辨率分析

只需一键操作,AutoLayer 即可将多张 X 射线面扫图中复杂的信息整合为单张图像,帮您直观呈现样品中的物相及元素分布。

  • 自动快速解析样品信息
  • 在单张图像中突出关键特征
  • 轻松解析真实样品的复杂结构
  • 分层图像色彩与EDS面扫图一一对应

TruMap 是一项独特的实时面分析技术,充分利用新一代 SDD 探测器的高计数率优势,将数据真实性与可靠性提升至全新高度,让您清晰观察到真实的元素分布变化。

  • 有效消除分析伪影
  • 精准校正元素峰重叠干扰
  • 去除由 X 射线背景导致的虚假成分波动
  • 全流程实时运行处理
映射和谱

能谱检视器可有效检出原本容易被忽略的微量物相

  • 自动对 SmartMap 结果进行分析
  • 在总能谱中突出显示像素计数差异显著的特征能量区间
  • 内置引导式向导可简化参数设置,帮助所有用户稳定获取高质量大视场面分析数据
  • 支持倾斜样品,在整个成像区域内保持一致聚焦
  • 采集过程中自动图像拼接,生成无缝、无畸变的 LAM 数据集
  • 最多可采集 10000个视场,电子图像可达 8K×8K,EDS面分布图可达 4K×4K,分别生成高达 960 亿和 240 亿像素的数据集
  • 采集过程中支持交互操作,可实时导航与查看合成的数据集
  • 支持单视场分析与EDS面分布图参数调整,并在采集过程中全局同步更新至整个大视场数据

EDS 线扫描

EDS 线扫描
EDS 线扫描将 AZtec 实时采集与报告功能应用于成分线性变化分析。

  • 清晰、快速、简便地呈现线扫描结果
  • 灵活视图模式,便于结果判读
  • 支持堆叠视图与倾斜视图显示
  • 可归一化显示,轻松对比主量与痕量元素变化

TruLine
集成 TruMap 核心技术,真实还原元素分布情况。

  • 自动校正元素峰重叠干扰
  • 消除 X 射线背景波动,凸显真实元素差异
  • 图像与线扫描结果精准对齐,便于直观对比
  • 强度归一化显示,轻松对比主量与微量元素变化

QuantLine
采用精准可靠的 Tru-Q 定量分析技术,直观呈现元素含量的定量变化。

  • 无需漫长的数据处理……实时查看定量线扫描结果
  • 定量结果以 质量分数(wt%) 或 原子分数(at%) 显示
  • 结果表格可直接导出至 Excel

通用功能

  • 可从任意线扫描中提取单点能谱,用于更深入的详细分析
  • 数据可按图表或表格形式查看
  • 可对线扫描数据进行合并统计(Binning),提升数据统计精度
标准x-ray图和线扫描结果表明,钨和硅在该结构的相似区域内富集

AutoPhaseMap

材料表征通常耗时较长,且需要经验丰富的操作人员对数据进行解析。只需一键操作,AutoPhaseMap 即可从面分布图数据中自动识别具有不同特征成分的区域,确定其分布、面积、组成元素,并生成易于理解的物相图像。

AutoPhaseMap 为样品自动生成相分布图提供了全新方式。

在采集过程中或采集完成后,AutoPhaseMap 可自动完成:

  • 数秒内将元素面分布数据转化为物相分布图
  • 计算并显示:
    • 各物相的分布情况
    • 各物相的能谱与化学成分
    • 各物相的面积分数
  • 可识别从纳米材料到各类尺寸范围的物相
  • 发现隐藏物相,高亮显示以痕量存在的未被检出元素

专为核心应用场景量身定制

AZtecLive 软件平台在常规分析中兼具无与伦比的分析速度与结果精度,同时也具备应对复杂应用所需的灵活性与强大性能。软件内置全套分析工具,助您高效、自信、轻松地完成样品分析与表征。

AZtec 软件的实时谱图与定量比对工具是质量控制应用的理想之选,即使是新手用户,也能快速获得精准可靠的检测结果。

谱图匹配与谱图检视等功能,助力用户轻松分析并识别合格样品与失效样品之间的差异。

AZtecFeature、AZtecSteel与AZtecClean等专用应用模块,可助力工业用户优化现有产品或开发创新解决方案。

实时化学成像、大面积面分布、AutoPhaseMap(自动物相分析)以及LayerProbe(多层结构探测)等先进工具,为学术研究人员提供了开展前沿研究所需的核心能力。

客户出版物

探索更多产品系列

Ultim Max Infinity能谱仪

Ultim Max Infinity能谱仪

Ultim Max Infinity SDD探测器释放了EDS的无限潜力——包含全球最大的170 mm²面积SDD探测器,且所有传感器尺寸均保证碳元素能量分辨率达到46 eV或更优水平。

CMOS EBSD探测器

CMOS EBSD探测器

我们的CMOS系列探测器可在各类EBSD分析中提供卓越性能。它们兼具无与伦比的灵敏度与出色的分析速度,确保在任何样品及测试条件下都能获得最优数据质量。

拉曼-扫描电镜联用显微镜

拉曼-扫描电镜联用显微镜

RISE显微技术是一种创新的关联显微分析技术,它将扫描电镜(SEM)与共聚焦拉曼成像相结合。通过RISE显微技术,可将材料的超微结构表面特性与分子化合物信息建立直接关联。

沪ICP备17031777号-1 公安机关备案号31010402003473