网络研讨会 - Nanoanalysis

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网络研讨会

半导体失效分析需要进行大量的工作以了解故障的来源，以便从批量生产中消除故障。了解牛津仪器如何帮助您克服这些工作中所产生各种挑战。

介绍牛津仪器基于CMOS的EBSD探测器系列，并讨论了CMOS传感器与传统电荷耦合器件(CCD)相比的技术优势。

以下的应用实例都显示了在AZtecLive帮助下如何快速获得样品新芯，从中，您可以了解AZtecLive如何从根本上改变您在电子显微镜下进行样品分析的方式。

从颗粒、晶粒、夹杂物或其他特征中自动获取和分类相关联的形貌和化学数据，在许多领域都是至关重要的。以下介绍了AZtecFeature在进行颗粒物分析时的快速、准确等特点。